| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| ·研究背景 | 第8-9页 |
| ·磁场探头校准系统的国内外发展现状 | 第9-10页 |
| ·本论文所做的主要工作 | 第10-11页 |
| 第二章 磁场探头的原理和应用 | 第11-20页 |
| ·概述 | 第11页 |
| ·磁场探头的原理 | 第11-16页 |
| ·探头的构成 | 第11-12页 |
| ·探头的变换原理 | 第12-16页 |
| ·磁场探头应用 | 第16-18页 |
| ·诊断测量场地条件 | 第16-17页 |
| ·诊断印制电路 | 第17页 |
| ·电磁干扰诊断 | 第17-18页 |
| ·测量误差分析 | 第18-20页 |
| 第三章 亥姆霍兹线圈和TEM小室的工作原理 | 第20-33页 |
| ·亥姆霍兹线圈的工作原理 | 第20-23页 |
| ·亥姆霍兹线圈的结构和原理 | 第20-21页 |
| ·线圈大小的确定 | 第21-22页 |
| ·线圈的最高工作频率 | 第22-23页 |
| ·TEM小室的工作原理 | 第23-33页 |
| ·TEM小室的结构和原理 | 第23-26页 |
| ·辐射敏感度测试 | 第26-30页 |
| ·测试误差的来源 | 第30-33页 |
| 第四章 电磁场探头的校准方法 | 第33-49页 |
| ·概述 | 第33-34页 |
| ·校准方法 | 第34-36页 |
| ·频域校准的场探头方位 | 第34-35页 |
| ·时域校准的场探头方位 | 第35-36页 |
| ·校准场的产生 | 第36-37页 |
| ·频域场的产生 | 第36-37页 |
| ·时域场的产生 | 第37页 |
| ·校准参数 | 第37-43页 |
| ·频域校准参数 | 第37-39页 |
| ·时域校准参数 | 第39-40页 |
| ·校准等级 | 第40-43页 |
| ·校准技术 | 第43-49页 |
| ·传递标准探头 | 第43页 |
| ·工作标准探头 | 第43-44页 |
| ·频域校准技术 | 第44-47页 |
| ·时域校准技术 | 第47-49页 |
| 第五章 磁场探头的校准系统 | 第49-69页 |
| ·磁场探头校准系统的架构 | 第49-50页 |
| ·亥姆霍兹线圈产生9kHz～3MHz标准磁场的校准系统 | 第50-58页 |
| ·校准系统的组成 | 第50-53页 |
| ·亥姆霍兹线圈的研究和校准系统的建立 | 第53-58页 |
| ·TEM小室产生10kHz～100MHz标准磁场的校准系统 | 第58-67页 |
| ·校准系统的组成 | 第58-59页 |
| ·TEM小室的研究 | 第59-67页 |
| ·前景展望 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文(2篇) | 第71页 |