基于FPGA的高可靠R80515的设计与实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·本课题的研究目的和意义 | 第9-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·国外高可靠微处理器技术研究和发展概况 | 第11-12页 |
| ·国内可靠性微处理器技术研究和发展概况 | 第12-13页 |
| ·本论文的主要工作 | 第13-14页 |
| ·本论文的组织结构 | 第14-15页 |
| 第2章 EDA工程方法学 | 第15-22页 |
| ·EDA工程简介 | 第15-17页 |
| ·FPGA的开发流程 | 第17-21页 |
| ·本课题开发平台简介 | 第21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第3章 电路加固技术 | 第22-31页 |
| ·可靠性技术简介 | 第22-23页 |
| ·加固技术 | 第23-30页 |
| ·可靠性编码 | 第23-26页 |
| ·TMR冗余技术 | 第26-27页 |
| ·控制流检测技术 | 第27-29页 |
| ·其它常见技术 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第4章 高可靠R80515体系结构的设计与实现 | 第31-54页 |
| ·R80515介绍 | 第31-33页 |
| ·SEU现象介绍 | 第33-34页 |
| ·R80515的加固模型 | 第34-35页 |
| ·控制流检测的实现及其改进 | 第35-41页 |
| ·控制流检测的软硬件划分 | 第35-36页 |
| ·SFR和RAM的保存与恢复 | 第36-41页 |
| ·EDAC实现及其改进 | 第41-46页 |
| ·海明编、解码电路的实现 | 第41-45页 |
| ·EDAC示例 | 第45-46页 |
| ·TMR技术 | 第46-48页 |
| ·TMR在Xilinx FPGA上的实现 | 第46-48页 |
| ·TMR示例 | 第48页 |
| ·TMR技术与EDAC技术的对比 | 第48页 |
| ·组合电路提取 | 第48-51页 |
| ·自动提取实现 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第5章 仿真和测试 | 第54-60页 |
| ·R80515源IP的测试平台 | 第54-55页 |
| ·加固后的测试 | 第55-57页 |
| ·可靠性试验 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 结论 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及取得的科研成果 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
