目次 | 第1-8页 |
致谢 | 第8-9页 |
摘要 | 第9-11页 |
Abstract | 第11-14页 |
1 绪论 | 第14-39页 |
·引言 | 第14页 |
·微波介质陶瓷 | 第14-22页 |
·应用背景和发展历史 | 第14-17页 |
·性能指标 | 第17-19页 |
·微波介质陶瓷体系 | 第19-21页 |
·发展趋势 | 第21-22页 |
·微波介电性能调控原理和方法 | 第22-33页 |
·微波介电响应 | 第22-24页 |
·极化率和介电常数 | 第24-26页 |
·品质因素 | 第26-30页 |
·谐振频率温度系数 | 第30-33页 |
·K_2NiF_4结构材料 | 第33-36页 |
·课题的提出与研究内容 | 第36-39页 |
2 微波介电性能评价方法 | 第39-57页 |
·前言 | 第39-40页 |
·精确测量微波介电性能的基本原理 | 第40-45页 |
·介电常数 | 第40-41页 |
·介电损耗正切 | 第41-44页 |
·谐振频率温度系数 | 第44-45页 |
·平行板介质谐振器法(开腔法) | 第45-48页 |
·复介电常数的测量 | 第45-46页 |
·表面电阻率R_s的测量 | 第46-47页 |
·圆柱形样品的尺寸要求 | 第47页 |
·模式识别 | 第47-48页 |
·谐振频率温度系数的测量 | 第48页 |
·金属谐振腔法(闭腔法) | 第48-55页 |
·介电损耗的测量 | 第48-49页 |
·介电常数测量和算法改进 | 第49-54页 |
·测量系统 | 第54-55页 |
·结论 | 第55-57页 |
3 MRAlO_4陶瓷晶体结构和微波介电性能 | 第57-73页 |
·前言 | 第57-58页 |
·试样制备与测试 | 第58-59页 |
·陶瓷样品的制备 | 第58页 |
·样品致密度测量 | 第58-59页 |
·相组成和晶体结构精修 | 第59页 |
·实验结果与讨论 | 第59-72页 |
·烧结特性 | 第59-60页 |
·微波介电性能 | 第60-62页 |
·晶体结构精修 | 第62-72页 |
·结论 | 第72-73页 |
4 MRAlO_4陶瓷红外和拉曼光谱研究 | 第73-92页 |
·前言 | 第73-74页 |
·试样制备与测试 | 第74-80页 |
·样品的制备 | 第74页 |
·晶格振动模的对称性分类 | 第74-77页 |
·红外反射光谱的解析 | 第77-80页 |
·拉曼光谱的测量 | 第80页 |
·本征损耗 | 第80-82页 |
·实验结果与讨论 | 第82-91页 |
·红外反射光谱 | 第82-90页 |
·拉曼光谱 | 第90-91页 |
·结论 | 第91-92页 |
5 成分裁剪对CaSmA10_4基陶瓷微结构和微波介电性能的影响规律 | 第92-105页 |
·前言 | 第92页 |
·试样制备与测试 | 第92-93页 |
·实验结果与讨论 | 第93-104页 |
·相组成和微结构 | 第93-100页 |
·微波介电性能 | 第100-104页 |
·结论 | 第104-105页 |
6 Ca/Ti协同置换CaSmA10_4微波介质陶瓷的结构与性能 | 第105-123页 |
·前言 | 第105-106页 |
·试样制备与测试 | 第106页 |
·Ca_(1+x)Sm_(1-x)Al_(1-x)Ti_xO_4陶瓷 | 第106-118页 |
·相组成和微结构 | 第106-113页 |
·晶体结构精修 | 第113-115页 |
·微波介电性能 | 第115-118页 |
·Ca_(1+x)Sm_(1-x)Al_(1-x)Ti_xO_4-0.04(1+x)CaO陶瓷 | 第118-121页 |
·烧结特性和微结构 | 第118-120页 |
·微波介电性能 | 第120-121页 |
·结论 | 第121-123页 |
7 总结 | 第123-125页 |
参考文献 | 第125-135页 |
作者简历及在学期间所取得的科研成果 | 第135-136页 |