| 目录 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-10页 |
| 1 引言 | 第10-16页 |
| ·加速器质谱学概述 | 第10-12页 |
| ·~(182)Hf测量的意义 | 第12-13页 |
| ·~(182)Hf测量的国际、国内现状 | 第13-16页 |
| 2 串列加速器质谱测量技术 | 第16-34页 |
| ·串列AMS系统 | 第16-22页 |
| ·离子源 | 第16-17页 |
| ·注入系统 | 第17页 |
| ·串列加速器 | 第17-18页 |
| ·高能分析系统 | 第18-19页 |
| ·探测器 | 第19-22页 |
| ·干扰本底 | 第22-26页 |
| ·分子干扰 | 第23页 |
| ·同位素干扰 | 第23页 |
| ·同量异位素干扰 | 第23-26页 |
| ·样品的制备 | 第26页 |
| ·分馏效应 | 第26-28页 |
| ·分馏效应的来源 | 第27页 |
| ·减小分馏效应的措施 | 第27-28页 |
| ·测量的方法与程序 | 第28-30页 |
| ·同位素比值的测量方法 | 第28页 |
| ·测量结果的校正 | 第28-29页 |
| ·测量程序与不确定度评定 | 第29-30页 |
| ·加速器质谱计的性能及其限制因素 | 第30-34页 |
| ·样品量 | 第30页 |
| ·本底与灵敏度 | 第30-31页 |
| ·精度 | 第31-32页 |
| ·效率 | 第32-34页 |
| 3 中国原子能科学研究院HI-13AMS装置 | 第34-36页 |
| ·离子源、注入器系统 | 第34页 |
| ·加速器 | 第34页 |
| ·高能分析和传输系统 | 第34-35页 |
| ·探测器 | 第35页 |
| ·数据获取系统 | 第35-36页 |
| 4 ~(182)Hf AMS测量方法的建立 | 第36-63页 |
| ·~(182)Hf AMS测量中需解决的关键问题 | 第36-37页 |
| ·~(182)Hf的生产 | 第37页 |
| ·样品的制备 | 第37-42页 |
| ·HfF_4样品的制备流程 | 第37-39页 |
| ·样品中干扰核素Ta和W的化学分离 | 第39-41页 |
| ·标准样品的制备 | 第41-42页 |
| ·AMS专用注入器的设计 | 第42-48页 |
| ·~(182)Hf的AMS测量对注入器质量分辨率的要求 | 第42-43页 |
| ·影响注入器质量分辨率的主要因素 | 第43-44页 |
| ·束流光学设计 | 第44-48页 |
| ·~(182)Hf的模拟传输和高能静电分析器对同位素的排除 | 第48-50页 |
| ·~(182)Hf的模拟传输 | 第48-49页 |
| ·高能静电分析器对同位素的排除 | 第49-50页 |
| ·效率 | 第50-54页 |
| ·离子源引出效率 | 第50-52页 |
| ·加速器的传输效率 | 第52-54页 |
| ·~(182)Hf的AMS总效率 | 第54页 |
| ·探测器系统 | 第54-59页 |
| ·~(182)Hf AMS测量的主要干扰核素及其鉴别方法 | 第54-56页 |
| ·能量探测器 | 第56页 |
| ·飞行时间探测器的构成 | 第56-58页 |
| ·探测器系统的调试 | 第58-59页 |
| ·~(182)W本底的校正方法 | 第59-60页 |
| ·~(182)Hf实验谱的理论描绘 | 第60-63页 |
| ·~(182)Hf的能量谱 | 第60页 |
| ·~(182)Hf的飞行时间谱和能量—飞行时间双维谱 | 第60-63页 |
| 5 实验结果 | 第63-72页 |
| ·~(182)Hf的模拟传输及其束流测量结果 | 第63-64页 |
| ·~(182)Hf的能谱 | 第64-65页 |
| ·~(182)Hf的飞行时间谱 | 第65页 |
| ·~(182)Hf的能量-飞行时间双维谱 | 第65页 |
| ·~(183)W的能量-飞行时间双维谱 | 第65-70页 |
| ·~(182)Hf的测量结果及其探测灵敏度 | 第70-72页 |
| 6 总结 | 第72-74页 |
| 7 参考文献 | 第74-80页 |
| 8 附录:博士在读期间发表的论文 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81页 |
