| 第一章 绪论 | 第1-13页 |
| 第二章 红外探测材料发展与CMR材料的物理特性 | 第13-35页 |
| ·红外探测材料的发展状况 | 第13-24页 |
| ·红外探测仪的分类及工作原理 | 第13-22页 |
| ·未来发展趋势 | 第22-24页 |
| ·CMR材料的物理特性 | 第24-33页 |
| ·CMR材料的应用 | 第33-35页 |
| 第三章 La_(1-x)Sr_xMnO_3薄膜的制备 | 第35-47页 |
| ·La_(1-x)Sr_xMnO3多晶靶材的制备 | 第35-38页 |
| ·用PLD法制备La_(1-x)Sr_xMnO_3薄膜 | 第38-47页 |
| ·PLD法制膜的优缺点 | 第38-39页 |
| ·PLD法制膜原理 | 第39-40页 |
| ·La_(1-x)Sr_xMnO_3薄膜的制备 | 第40-47页 |
| 第四章 恒温控制外围电路设计 | 第47-65页 |
| ·恒温控制电路设计背景 | 第47-48页 |
| ·半导体制冷器 | 第48-59页 |
| ·半导体制冷基本原理 | 第48-54页 |
| ·半导体制冷器的特点及应用 | 第54-56页 |
| ·选用半导体制冷器控温的理由 | 第56-57页 |
| ·半导体制冷器的一些性能参数 | 第57-59页 |
| ·电路的设计 | 第59-65页 |
| ·电路的设计原理 | 第59-61页 |
| ·电路性能 | 第61-63页 |
| ·电路设计展望 | 第63-65页 |
| 第五章 La_(1-x)Sr_xMnO_3探测元件制作及其光学测量 | 第65-80页 |
| ·微机自控R-T曲线测试系统 | 第65-69页 |
| ·系统原理及组建 | 第65-66页 |
| ·四探针法测电阻 | 第66-67页 |
| ·测量精度讨论 | 第67页 |
| ·R-T测量结果 | 第67-69页 |
| ·测辐射热仪原理 | 第69-70页 |
| ·TCR系数 | 第70-71页 |
| ·Lal_(1-x)Sr_xMnO_3焦平面器件制作 | 第71-76页 |
| ·蒸镀电极 | 第71-72页 |
| ·光刻 | 第72-73页 |
| ·显影 | 第73页 |
| ·腐蚀 | 第73-74页 |
| ·去胶 | 第74页 |
| ·热压焊法接引线 | 第74-76页 |
| ·光电信号测量 | 第76-80页 |
| ·封装半导体杜瓦瓶 | 第76页 |
| ·实验及分析 | 第76-80页 |
| 第六章 结论 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
