| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-10页 |
| 1 绪 论 | 第10-16页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·课题研究的意义 | 第11-12页 |
| ·国内外X射线探测光谱仪研究现状 | 第12-14页 |
| ·课题的来源及双通道椭圆弯晶谱仪研制的意义 | 第14-15页 |
| ·本文主要研究内容 | 第15-16页 |
| 2 等离子体X射线产生机制及X射线晶体衍射理论基础 | 第16-32页 |
| ·等离子体X射线产生机制 | 第16-19页 |
| ·等离子体产生X射线的机制 | 第16-18页 |
| ·激光等离子体的X射线辐射 | 第18-19页 |
| ·晶体分光法诊断高温等离子体X射线 | 第19-26页 |
| ·晶体分光法基本原理 | 第20-21页 |
| ·应用于X射线激光实验中的晶体谱仪 | 第21-26页 |
| ·晶体的性能对衍射的影响 | 第26-30页 |
| ·晶面间距d | 第26-28页 |
| ·半高宽度 、峰值衍射率P和积分反射系数 | 第28-30页 |
| ·本章小结 | 第30-32页 |
| 3 双通道椭圆弯晶谱仪的原理及光学系统设计 | 第32-52页 |
| ·椭圆聚焦几何原理及优点 | 第32-36页 |
| ·双通道椭圆弯晶谱仪的光学系统的基本组成 | 第36-42页 |
| ·光源 | 第36-37页 |
| ·前置柱面单色镜 | 第37-38页 |
| ·色散系统 | 第38-39页 |
| ·聚焦成像系统及滤光膜 | 第39-41页 |
| ·接收和检测记录系统 | 第41页 |
| ·双通道光谱检测系统的设计 | 第41-42页 |
| ·双通道椭圆弯晶谱仪的基本特性 | 第42-46页 |
| ·工作光谱范围 | 第42页 |
| ·色散率 | 第42-43页 |
| ·光谱相对孔径 | 第43-44页 |
| ·谱仪的光学传递函数 | 第44页 |
| ·谱仪的分辨率 | 第44-46页 |
| ·椭圆弯晶分析器的参数选择及制造工艺 | 第46-50页 |
| ·椭圆弯晶基底的结构参数和制作工艺 | 第46-48页 |
| ·晶体材料的选择及工艺性 | 第48-50页 |
| ·本章小结 | 第50-52页 |
| 4 谱仪结构设计及瞄准对中方案,谱仪的精度和误差分析 | 第52-70页 |
| ·双通道椭圆弯晶谱仪的结构设计方案 | 第53-61页 |
| ·谱仪真空箱体 | 第53-56页 |
| ·瞄准对中装置 | 第56-57页 |
| ·定位支撑调节基座 | 第57-58页 |
| ·与靶室连接的转接法兰 | 第58页 |
| ·谱仪自带真空系统 | 第58-59页 |
| ·其它重要部件 | 第59-60页 |
| ·谱仪总体结构 | 第60-61页 |
| ·瞄准对中方案 | 第61-64页 |
| ·瞄准对中方案一 | 第62-63页 |
| ·瞄准对中方案二 | 第63-64页 |
| ·谱仪精度及误差分析 | 第64-67页 |
| ·波长沿探测圆的弥散度和光度参数dβ/dχ与散射角β的关系 | 第64-66页 |
| ·影响分辨率的谱线位置误差分析 | 第66-67页 |
| ·本章小结 | 第67-70页 |
| 5 实验及结果分析 | 第70-82页 |
| ·真空系统实验 | 第70-71页 |
| ·瞄准对中实验 | 第71-73页 |
| ·上海神光Ⅱ靶室高能激光打靶实验 | 第73-76页 |
| ·实验参数设定 | 第74页 |
| ·实验结果分析 | 第74-76页 |
| ·绵阳星光Ⅱ靶室高能激光打靶实验 | 第76-81页 |
| ·实验参数设定 | 第76-77页 |
| ·实验结果分析 | 第77-81页 |
| ·本章小结 | 第81-82页 |
| 6 结 论 | 第82-84页 |
| 致 谢 | 第84-86页 |
| 参考文献 | 第86-88页 |
