| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstrac | 第6-11页 |
| 图表与算法索引 | 第11-13页 |
| 1 绪论 | 第13-29页 |
| 1．1 课题来源、目的及研究背景和意义 | 第13-15页 |
| 1．2 文献综述 | 第15-26页 |
| 1．2．1 集成电路的设计与测试 | 第15-20页 |
| 1．2．2 数字电路测试的发展与研究概况 | 第20-23页 |
| 1．2．3 故障仿真方法 | 第23-24页 |
| 1．2．4 自动测试模式生成方法 | 第24-26页 |
| 1．3 本文的主要工作和创新点 | 第26-27页 |
| 1．4 本文的组织 | 第27-29页 |
| 2 故障建模与故障压缩 | 第29-36页 |
| 2．1 故障建模 | 第29-31页 |
| 2．2 故障覆盖率测度定义 | 第31页 |
| 2．3 单固定型故障与故障压缩方法 | 第31-34页 |
| 2．4 故障压缩算法的实现与实验结果 | 第34-35页 |
| 2．5 本章小结 | 第35-36页 |
| 3 测试生成基础与基本方法 | 第36-56页 |
| 3．1 合成电路描述 | 第36-37页 |
| 3．2 ATPG 代数 | 第37-40页 |
| 3．2．1 合成值系统的基本值 | 第37页 |
| 3．2．2 多值逻辑 | 第37-40页 |
| 3．3 布尔函数的图形描述 | 第40-43页 |
| 3．4 ATPG 搜索策略与搜索树的组织形式 | 第43-44页 |
| 3．5 ATPG 算法完备性 | 第44-45页 |
| 3．6 ATPG 计算复杂性 | 第45页 |
| 3．7 ATPG 方法类型 | 第45-55页 |
| 3．7．1 穷举方法 | 第45-47页 |
| 3．7．2 符号布尔差分方法 | 第47页 |
| 3．7．3 路径敏化方法 | 第47-51页 |
| 3．7．4 基于布尔可满足性的方法 | 第51-53页 |
| 3．7．5 基于 BDD 的方法 | 第53-55页 |
| 3．8 本章小结 | 第55-56页 |
| 4 布尔可满足性及其判定 | 第56-69页 |
| 4．1 布尔可满足性 | 第56-57页 |
| 4．2 SAT 算法类型 | 第57-60页 |
| 4．2．1 完备的 SAT 算法 | 第57-59页 |
| 4．2．2 不完备的 SAT 算法 | 第59-60页 |
| 4．3 SAT 在 EDA 中的应用 | 第60-61页 |
| 4．4 DPLL 算法 | 第61-63页 |
| 4．4．1 单子句规则 | 第62-63页 |
| 4．4．2 纯文字规则 | 第63页 |
| 4．5 DP 消解算法 | 第63-64页 |
| 4．6 回溯搜索算法中的高级修剪技术 | 第64-67页 |
| 4．6．1 基于冲突的学习 | 第65-66页 |
| 4．6．2 非时序回溯 | 第66-67页 |
| 4．7 具有学习功能的现代 SAT 回溯搜索算法 | 第67-68页 |
| 4．8 本章小结 | 第68-69页 |
| 5 基于故障映射的并行故障仿真方法 | 第69-87页 |
| 5．1 故障仿真器的应用 | 第69-70页 |
| 5．2 故障仿真的复杂性 | 第70-71页 |
| 5．3 并行故障仿真的方法与事例 | 第71-73页 |
| 5．4 电路图的划分 | 第73-75页 |
| 5．5 四值逻辑的编码与运算 | 第75-77页 |
| 5．6 无故障机的仿真 | 第77-78页 |
| 5．7 故障映射方法 | 第78-80页 |
| 5．8 故障注入方法 | 第80-82页 |
| 5．9 四值并行故障仿真器的实现与实验结果 | 第82-85页 |
| 5．10 本章小结 | 第85-87页 |
| 6 结合电路拓扑信息的形式化测试生成 | 第87-107页 |
| 6．1 从非子句形式的 SAT 问题到 CNF 公式的转换 | 第87-89页 |
| 6．2 组合逻辑电路上的 SAT 问题 | 第89-91页 |
| 6．3 ATPG-SAT 问题 | 第91-93页 |
| 6．4 故障检测的条件 | 第93-94页 |
| 6．5 基于 SAT 的测试模式生成事例 | 第94-95页 |
| 6．6 在类 CNF SAT 上增加电路结构信息层 | 第95-97页 |
| 6．7 转换结构启发式知识为 CNF 子句 | 第97-98页 |
| 6．7．1 故障激活子句的生成 | 第97-98页 |
| 6．7．2 活动路径子句的生成 | 第98页 |
| 6．8 基于 TRL 节点的 BDD 学习 | 第98-103页 |
| 6．8．1 BDD 学习节点的选择 | 第99-100页 |
| 6．8．2 ROBDD 图的变量排序方法 | 第100-102页 |
| 6．8．3 学习子句的生成 | 第102页 |
| 6．8．4 增补学习的子句到 CNF 子句库中 | 第102-103页 |
| 6．9 使用 2-SAT 算法加速求解 | 第103-105页 |
| 6．10 本章小结 | 第105-107页 |
| 7 自动测试模式生成系统的实现与试验结果 | 第107-115页 |
| 7．1 电路网表的处理 | 第107-108页 |
| 7．2 自动测试生成系统的算法实现 | 第108-110页 |
| 7．3 自动测试模式生成系统的组成 | 第110-112页 |
| 7．4 测试生成的实验结果 | 第112-114页 |
| 7．5 本章小结 | 第114-115页 |
| 8 总结与展望 | 第115-117页 |
| 8．1 总结 | 第115-116页 |
| 8．2 研究展望 | 第116-117页 |
| 致谢 | 第117-118页 |
| 参考文献 | 第118-133页 |
| 附录A 攻读学位期间发表的学术论文 | 第133-134页 |
| 附录B 缩略语 | 第134页 |