| 中文摘要 | 第1-7页 |
| 英文摘要 | 第7-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-11页 |
| 第二章 光学腔的描述及高精细度腔的特点 | 第11-18页 |
| ·F-P腔的基本原理 | 第11-12页 |
| ·F-P腔的各种参数 | 第12-14页 |
| ·自由光谱区 | 第12页 |
| ·光学谐振腔的损耗 | 第12页 |
| ·光学谐振腔内的光子寿命 | 第12-13页 |
| ·腔线宽 | 第13-14页 |
| ·F-P腔的精细度与品质因数 | 第14页 |
| ·腔模的电场分布 | 第14-17页 |
| ·光束大小 | 第15-16页 |
| ·波前曲率半径 | 第16页 |
| ·光束发散角 | 第16页 |
| ·纵模与横模 | 第16-17页 |
| ·高精细度腔的特点 | 第17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 第三章 高精细度腔的设计及光腔衰荡技术测量腔内低损耗 | 第18-35页 |
| ·高精细度腔的设计、建立及参数测试 | 第18-22页 |
| ·腔的稳定性条件 | 第18-19页 |
| ·高精细度腔的腔体设计 | 第19-20页 |
| ·腔参数 | 第20-22页 |
| ·利用光腔衰荡技术测量腔内低损耗 | 第22-28页 |
| ·光腔衰荡技术背景 | 第22页 |
| ·光腔衰荡技术的基本原理 | 第22-25页 |
| ·连续入射光的光腔衰荡测低损耗原理 | 第25-28页 |
| ·光腔衰荡实验过程与结果 | 第28-32页 |
| ·实验装置与实验过程 | 第28-30页 |
| ·光腔衰荡实验结果(l=17.8mm) | 第30-32页 |
| ·高精细度微腔对比结果 | 第32-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 高精细度腔的应用-半导体激光器线宽的测量 | 第35-47页 |
| ·引言 | 第35-36页 |
| ·半导体激光器的线宽及其光栅压窄 | 第36-38页 |
| ·半导体激光器线宽 | 第36页 |
| ·光栅反馈GaAlAs半导体激光器线宽压窄 | 第36-38页 |
| ·DBR半导体激光器线宽的测量 | 第38页 |
| ·白噪声对半导体激光器线宽的影响 | 第38-45页 |
| ·理论分析与实验因素考虑 | 第38-43页 |
| ·实验设计与结果 | 第43-45页 |
| ·本章小节 | 第45-47页 |
| 第五章 总结与展望 | 第47-50页 |
| ·工作总结 | 第47页 |
| ·工作展望 | 第47-50页 |
| 参考文献 | 第50-54页 |
| 发表论文情况 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 声明 | 第56页 |