致谢 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-14页 |
第一章 前言 | 第14-18页 |
·问题的提出 | 第14-15页 |
·关于本文 | 第15-18页 |
·本文的主要工作内容 | 第15-17页 |
·本文的组织结构 | 第17-18页 |
第二章 并行软件开发及其测试 | 第18-40页 |
·并行程序编程 | 第18-25页 |
·计算问题的分类 | 第18-19页 |
·并行软件开发所面临的主要技术问题 | 第19-21页 |
·并行软件的开发流程 | 第21-23页 |
·并行编程模型 | 第23页 |
·并行程序的结构 | 第23-25页 |
·并行软件通信环境 | 第25-26页 |
·并行程序测试 | 第26-40页 |
·软件测试中的基本概念 | 第26-28页 |
·事件和程序的正确性判别策略 | 第28-30页 |
·并行程序中差错的分类 | 第30-32页 |
·面向并行程序进程内部差错的控制流测试 | 第32-33页 |
·消息传递并行程序的时序逻辑测试 | 第33-37页 |
·消息传递并行程序的时序性能测试 | 第37页 |
·共享内存并行程序的时序测试 | 第37-40页 |
第三章 面向消息传递模型并行计算的通信环境 | 第40-60页 |
·PVM通信环境 | 第40-43页 |
·PVM的主要功能和特点 | 第40-41页 |
·PVM的通信性能 | 第41-43页 |
·MPI通信环境 | 第43-46页 |
·MPI的基本概念 | 第44-45页 |
·MPI的不同实现 | 第45-46页 |
·PVM和MPI比较 | 第46-49页 |
·PVM和MPI在功能方面的差异 | 第46-47页 |
·MPI1.1与PVM3.3.12的性能比较 | 第47-49页 |
·BLACS——面向线性代数计算的消息传递环境 | 第49-60页 |
·ScaLAPACK系统简介 | 第49-50页 |
·PVM BLACS的概念和性质 | 第50-52页 |
·BLACS中通信的拓扑结构 | 第52-54页 |
·充分发挥PVM BLACS在Hitachi SR2201上的使用效率 | 第54-56页 |
·根据Hitachi SR2201的软硬件环境改进PVM BLACS | 第56-57页 |
·对PVM BLACS的小结 | 第57-60页 |
第四章 并行程序的控制流测试 | 第60-78页 |
·关于ParCT的背景知识 | 第60-63页 |
·ParCT软件测试系统中的主要概念、术语 | 第60-62页 |
·ParCT的主要特点、功能 | 第62-63页 |
·ParCT的工作原理 | 第63-68页 |
·ParCT的工作机制 | 第63-66页 |
·ParCT的操作流程 | 第66-68页 |
·将来需要改进的地方 | 第68-73页 |
·为ParCT增配并行实时监控机制 | 第69页 |
·改进ParCT使其支持多线程 | 第69-70页 |
·测试用例的自动产生 | 第70-73页 |
·测试实验结果分析 | 第73-78页 |
·对BLACS的测试结果分析 | 第73-75页 |
·对PBLAS的测试结果分析 | 第75-77页 |
·小结 | 第77-78页 |
第五章 消息传递并行程序的时序逻辑测试 | 第78-102页 |
·消息传递并行程序的时序特性 | 第78-79页 |
·消息传递并行程序的时序模型 | 第79-84页 |
·LOTOS:时序规范语言 | 第79-81页 |
·同步序列模型 | 第81-84页 |
·并行程序测试模型 | 第84-94页 |
·同步序列的正确性判断原则 | 第84-85页 |
·消息传递并行程序中的同步事件的本质 | 第85-87页 |
·同步序列规范的形式描述 | 第87-89页 |
·线性同步和非线性同步并行程序 | 第89-90页 |
·两个比较有代表性的聚类操作——广播和归并 | 第90-94页 |
·并行程序时序测试方法 | 第94-102页 |
·常见的并行程序时序测试方法 | 第94-96页 |
·层次事件测试策略 | 第96-102页 |
第六章 消息传递并行程序的时序性能测试和测试覆盖率 | 第102-122页 |
·并行程序测试覆盖率计算的通用公式 | 第102-104页 |
·聚类操作的有效同步序列数的计算方法 | 第104-111页 |
·树型聚类操作的有效序列数的通用计算公式 | 第104-107页 |
·完全树型拓扑聚类操作的|Valid(P,X)|的计算公式 | 第107-111页 |
·消息传递并行应用程序的有效同步序列数的分析 | 第111-116页 |
·高斯消去法 | 第111-113页 |
·5点差分迭代法 | 第113-116页 |
·消息传递并行程序的有效同步序列数 | 第116页 |
·并行程序的测度(testability) | 第116-117页 |
·消息传递并行程序时序测试中亟待解决的问题 | 第117-119页 |
·消息传递并行程序中的死锁 | 第117-118页 |
·统一时钟 | 第118页 |
·减少插装负作用 | 第118-119页 |
·小结 | 第119-122页 |
第七章 结束语 | 第122-126页 |
·本文的主要工作 | 第122-124页 |
·今后的任务 | 第124-126页 |
参考文献 | 第126-136页 |
附录A 共享内存并行程序时序测试 | 第136-152页 |
A.1 共享内存并行程序的时序模型 | 第137-138页 |
A.2 共享内存并行程序的测试模型 | 第138-143页 |
A.2.1 同步序列的合法性分析 | 第138页 |
A.2.2 根据控制流和消息流进行时序的合法性分析 | 第138-140页 |
A.2.3 根据数据相关性进行同步序列的有效性分析 | 第140-141页 |
A.2.4 时空图(Space-time Diagram) | 第141-143页 |
A.3 共享内存并行程序的测试覆盖率 | 第143-150页 |
A.3.1 共享内存并行程序的时序测试覆盖率的计算公式 | 第143页 |
A.3.2 共享内存并行程序有效同步序列数的通用计算方法 | 第143-144页 |
A.3.3 高斯消去法的有效同步序列数 | 第144-148页 |
A.3.4 有限个处理器条件下的有效同步序列数 | 第148-150页 |
A.4 消息传递和共享内存并行程序测试规模的比较 | 第150-152页 |
攻读博士学位期间的主要工作成果 | 第152-156页 |
作者简历 | 第156页 |