能够检测LD工作寿命的驱动电源的研制
中文摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-10页 |
第一章 绪论 | 第10-25页 |
·半导体激光器(LD)的进展 | 第10-12页 |
·半导体激光器发展历史 | 第10-11页 |
·半导体激光器的主要应用 | 第11-12页 |
·半导体激光器的简要介绍 | 第12-19页 |
·半导体激光器的工作原理 | 第12-14页 |
·半导体激光器的结构 | 第14-15页 |
·半导体激光器的输出特性 | 第15-16页 |
·半导体激光器常见的失效机理分析 | 第16-18页 |
·半导体激光器对电源的要求 | 第18-19页 |
·半导体激光器的驱动 | 第19-21页 |
·驱动恒流源 | 第19-20页 |
·半导体激光器驱动的实现方式 | 第20-21页 |
·论文的研究内容 | 第21-22页 |
·论文的研究意义 | 第22-23页 |
参考文献 | 第23-25页 |
第二章 寿命检测原理及总体设计方案 | 第25-31页 |
·寿命检测原理 | 第25-27页 |
·系统设计方案 | 第27-29页 |
·本章小结 | 第29-30页 |
参考文献 | 第30-31页 |
第三章 硬件电路设计与实现 | 第31-49页 |
·FPGA 器件及其配置 | 第31-34页 |
·FPGA 器件 | 第31-32页 |
·FPGA 器件配置 | 第32-34页 |
·单片机及其外围电路 | 第34-38页 |
·单片机器件 | 第35页 |
·键盘输入部分 | 第35-36页 |
·显示部分 | 第36-37页 |
·寿命报警电路 | 第37-38页 |
·电流驱动电路 | 第38-41页 |
·D/A 转换电路设计 | 第38-39页 |
·后端的恒流电路 | 第39-41页 |
·信号采样电路 | 第41-43页 |
·信号放大电路 | 第41-42页 |
·后端A/D 转换设计 | 第42-43页 |
·恒温控制 | 第43-46页 |
·温度变化对半导体激光器的影响 | 第44-45页 |
·温度控制装置 | 第45-46页 |
·本章小结 | 第46-47页 |
参考文献 | 第47-49页 |
第四章 软件设计与实现 | 第49-62页 |
·单片机软件设计 | 第49-55页 |
·FPGA 程序配置 | 第49-51页 |
·键盘处理程序 | 第51-53页 |
·温度控制运算 | 第53-55页 |
·FPGA 软件设计 | 第55-60页 |
·功能模块设计 | 第56-58页 |
·设计中毛刺的消除 | 第58-60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-62页 |
第五章 性能测试及结果分析 | 第62-68页 |
·恒流输出测试 | 第62-64页 |
·V/I 转换性能测试 | 第62-63页 |
·电流设定测试 | 第63-64页 |
·LD 工作寿命模拟测试分析 | 第64-65页 |
·温控性能测试 | 第65-66页 |
·本章小结 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-68页 |
第六章 纯硬件电路的功能实现 | 第68-74页 |
·系统总体设计 | 第68-69页 |
·恒功率驱动电路 | 第69-70页 |
·寿命检测与功能控制电路 | 第70-72页 |
·本章小结 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-74页 |
结束语 | 第74-75页 |
攻读硕士学位期间主要科研成果 | 第75-76页 |
致谢 | 第76页 |