摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第1章 正电子湮没谱学综述 | 第9-21页 |
·正电子谱学概述 | 第9-10页 |
·正电子的预言和发现 | 第9页 |
·正电子谱学的原理和研究内容 | 第9-10页 |
·固体中的正电子动力学 | 第10-13页 |
·正电子在物质中的热化和扩散 | 第10-11页 |
·正电子的捕获 | 第11-13页 |
·正电子湮没测量技术 | 第13-21页 |
·正电子寿命谱 | 第14-17页 |
·正电子湮没多普勒展宽谱 | 第17-19页 |
·慢正电子谱 | 第19-21页 |
第2章 聚变堆低活化马氏体钢研究及正电子在其中的应用 | 第21-28页 |
·聚变堆结构材料的发展现状 | 第21-22页 |
·低活化铁素体马氏体钢 | 第22-24页 |
·辐照损伤概述 | 第24-27页 |
·反应堆结构材料的辐照损伤类型 | 第24-25页 |
·反应堆结构材料的辐照缺陷 | 第25页 |
·辐照损伤的实验研究方法 | 第25-27页 |
·缺陷研究的正电子谱学 | 第27-28页 |
·正电子寿命参数反应的缺陷信息 | 第27页 |
·多普勒展宽谱S 参数反应的缺陷信息 | 第27-28页 |
第3章 CLAM 钢辐照前的微观结构研究 | 第28-33页 |
·CLAM 钢微观结构观察 | 第28-31页 |
·CLAM 钢样品 | 第28页 |
·金相观察 | 第28-29页 |
·透射电子显微镜观察 | 第29页 |
·正电子湮没估测CLAM 钢中的位错密度 | 第29-31页 |
·退火温度对CLAM 钢微观结构的影响 | 第31-33页 |
·实验样品退火处理 | 第31页 |
·实验结果与讨论 | 第31-33页 |
第4章 载能粒子对材料损伤效应的SRIM 模拟 | 第33-45页 |
·离子辐照的能量损失过程 | 第33-36页 |
·离子射程 | 第36-38页 |
·物理溅射 | 第38-41页 |
·溅射产额 | 第39-40页 |
·入射角对溅射产额的影响 | 第40-41页 |
·辐照损伤 | 第41-45页 |
·辐照损伤原理 | 第41-42页 |
·辐照损伤计算结果 | 第42-45页 |
第5章 质子辐照CLAM 钢研究 | 第45-61页 |
·实验部分 | 第45-46页 |
·实验材料 | 第45页 |
·质子辐照实验 | 第45-46页 |
·慢正电子束测量 | 第46页 |
·质子辐照CLAM 钢损伤效应的SRIM 模拟 | 第46-50页 |
·质子径迹 | 第46-47页 |
·H 离子及级联原子的分布 | 第47-48页 |
·靶损伤情况 | 第48页 |
·能量沉积 | 第48-50页 |
·辐照前后的表面形貌观察 | 第50-51页 |
·CLAM 钢辐照后慢正电子分析 | 第51-57页 |
·辐照缺陷随辐照注量的变化 | 第51-53页 |
·辐照缺陷的深度分布 | 第53-54页 |
·添加硅对辐照损伤的影响 | 第54-56页 |
·退火对辐照缺陷的影响 | 第56-57页 |
·几点讨论 | 第57-61页 |
第6章 四种不锈钢的Ar 离子辐照实验研究 | 第61-67页 |
·实验部分 | 第61-62页 |
·实验材料 | 第61页 |
·Ar 离子辐照实验 | 第61-62页 |
·实验结果及讨论 | 第62-63页 |
·离子辐照模拟实验条件的选择 | 第63-67页 |
第7章 总结和展望 | 第67-69页 |
·主要内容 | 第67页 |
·特色和创新 | 第67-68页 |
·未来展望 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-75页 |
致谢 | 第75-76页 |
在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第76页 |