| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-15页 |
| ·课题研究背景和意义 | 第11-12页 |
| ·国内外研究现状及发展趋势 | 第12-13页 |
| ·功放模型研究的发展状况 | 第12页 |
| ·线性化技术研究的发展状况 | 第12-13页 |
| ·论文的工作及章节安排 | 第13-15页 |
| 第2章 功率放大器的非线性特性及记忆效应分析 | 第15-25页 |
| ·功率放大器的非线性特性 | 第15-17页 |
| ·谐波失真 | 第15页 |
| ·互调失真(IMD) | 第15-16页 |
| ·AM-AM 和AM-PM 特性 | 第16-17页 |
| ·功率放大器的线性度指标 | 第17-19页 |
| ·1dB 压缩点 | 第17-18页 |
| ·三阶截断点(IP3) | 第18页 |
| ·邻道功率比(ACPR) | 第18页 |
| ·峰均功率比(PAPR) | 第18-19页 |
| ·功放的非线性对通信系统的影响 | 第19-21页 |
| ·码间干扰和邻道干扰 | 第19-20页 |
| ·非线性与功放效率和频谱的关系 | 第20-21页 |
| ·功率放大器的记忆效应 | 第21-24页 |
| ·记忆效应的定义及识别 | 第21页 |
| ·记忆效应产生的原因 | 第21-24页 |
| ·有源器件的自热 | 第22页 |
| ·偏置网络 | 第22-23页 |
| ·电源特性 | 第23页 |
| ·偶次谐波的失配 | 第23-24页 |
| ·小结 | 第24-25页 |
| 第3章 功率放大器的行为建模 | 第25-36页 |
| ·放大器行为模型的描述 | 第25-26页 |
| ·SALEH 功放模型 | 第26-27页 |
| ·Saleh 模型的表示 | 第26页 |
| ·Saleh 模型的参数估计 | 第26-27页 |
| ·VOLTERRA 级数模型 | 第27-29页 |
| ·Volterra 级数模型的结构 | 第27-28页 |
| ·离散时间的Volterra 级数 | 第28页 |
| ·Volterra 级数模型的参数估计 | 第28-29页 |
| ·WIENER 模型和HAMMERSTEIN 模型 | 第29-33页 |
| ·Wiener 模型的结构及参数估计 | 第29-30页 |
| ·Hammerstein 模型的结构及参数估计 | 第30-31页 |
| ·Wiener 模型和Hammerstein 模型的其它形式 | 第31-33页 |
| ·行为模型的选择及有效性 | 第33-34页 |
| ·功放模型的选择依据 | 第33页 |
| ·功放模型的有效性 | 第33-34页 |
| ·功放的仿真与模型测试 | 第34-35页 |
| ·小结 | 第35-36页 |
| 第4章 基于正交基函数的多项式结构模型 | 第36-44页 |
| ·传统的多项式模型 | 第36-38页 |
| ·传统多项式模型 | 第36页 |
| ·传统多项式模型的缺陷 | 第36-38页 |
| ·基于正交基的多项式模型 | 第38-41页 |
| ·正交基函数多项式 | 第38-40页 |
| ·功放模型验证 | 第40-41页 |
| ·正交基的讨论 | 第41-42页 |
| ·正交基的记忆多项式模型 | 第42-43页 |
| ·记忆多项式模型 | 第42页 |
| ·正交基的记忆多项式模型 | 第42-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 第5章 功放的线性化技术 | 第44-59页 |
| ·线性化技术概述 | 第44-47页 |
| ·射频负反馈技术 | 第44页 |
| ·Cartesian 反馈技术 | 第44-45页 |
| ·前馈法 | 第45-46页 |
| ·数字预失真技术 | 第46-47页 |
| ·数字预失真的控制结构 | 第47-48页 |
| ·直接学习结构 | 第47页 |
| ·非直接学习结构 | 第47-48页 |
| ·数字预失真的算法研究 | 第48-53页 |
| ·RLS 算法的多项式数字预失真 | 第48-49页 |
| ·RPE 算法的多项式数字预失真 | 第49-51页 |
| ·数字预失真的算法验证 | 第51-53页 |
| ·数字预失真的方案设计 | 第53-55页 |
| ·预失真的总体方案 | 第53-54页 |
| ·预失真的查找表实现 | 第54-55页 |
| ·数字预失真的测试 | 第55-58页 |
| ·预失真平台的搭建 | 第55-57页 |
| ·预失真的测试结果 | 第57-58页 |
| ·小结 | 第58-59页 |
| 第6章 总结与展望 | 第59-61页 |
| ·总结 | 第59页 |
| ·展望 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 附录 | 第65页 |