500MSPS AWG序列模块设计与波形发生模块改进
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-13页 |
·任意波形发生器的发展趋势 | 第10-11页 |
·任意波形发生器产品现状 | 第11-12页 |
·本文主要研究内容 | 第12-13页 |
第二章 总体分析 | 第13-23页 |
·波形合成方式 | 第13-17页 |
·DDWS 和DDFS 实现原理 | 第13-16页 |
·DDWS 与DDFS 的比较 | 第16-17页 |
·波形合成方式选择 | 第17-20页 |
·结合DDFS 和DDWS 的波形合成方式 | 第17-18页 |
·高速合成方法 | 第18-20页 |
·总体设计 | 第20-22页 |
·前期的结构 | 第20-21页 |
·改进后的结构 | 第21-22页 |
·本章小结 | 第22-23页 |
第三章 序列模块的设计 | 第23-43页 |
·序列合成原理 | 第23-24页 |
·整体思路及结构 | 第24-27页 |
·整体思路 | 第24-26页 |
·整体结构 | 第26-27页 |
·主要单元设计 | 第27-40页 |
·可变时钟模块设计 | 第27-34页 |
·序列地址发生模块设计 | 第34-40页 |
·监控程序 | 第40-42页 |
·本章总结 | 第42-43页 |
第四章 波形发生模块的改进 | 第43-57页 |
·数据同步的改进 | 第43-50页 |
·原因分析 | 第43-45页 |
·具体改进措施 | 第45-49页 |
·改进后的提升 | 第49-50页 |
·Burst 调制模块改进 | 第50-53页 |
·Burst 调制原理及实现 | 第50-51页 |
·原因分析及改进 | 第51-53页 |
·高速DAC 复位设计的改进 | 第53-55页 |
·前期复位设计的弊端 | 第55页 |
·改进后的复位设计 | 第55页 |
·本章总结 | 第55-57页 |
第五章 测试与结论 | 第57-62页 |
·测试需用设备 | 第57页 |
·性能指标的测试 | 第57-62页 |
·采样时钟频率测试 | 第58-59页 |
·序列段长度测试 | 第59-60页 |
·序列段重复次数测试 | 第60-61页 |
·序列长度测试 | 第61-62页 |
第六章 总结 | 第62-63页 |
致谢 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64-65页 |
攻硕期间的研究成果 | 第65-66页 |