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基于溶液工艺的低维半导体光电探测器构筑及其性能研究

摘要第5-7页
Abstract第7-9页
1 绪论第18-35页
    1.1 引言第18页
    1.2 低维半导体材料的光电性能第18-21页
        1.2.1 光学性能第19-20页
        1.2.2 电学性能第20-21页
    1.3 低维半导体材料的溶液工艺方法第21-25页
    1.4 低维半导体材料在光电探测中的应用第25-33页
        1.4.1 光电探测器的性能指标第25-27页
        1.4.2 溶液工艺构筑光电探测器第27-28页
        1.4.3 柔性、可穿戴等新型光电探测器第28-29页
        1.4.4 光电探测器性能的提升第29-32页
        1.4.5 光电探测器的应用第32-33页
    1.5 本文研究的主要工作第33-35页
2 基于氧化锌量子点墨水的全印刷光电探测器第35-54页
    2.1 引言第35-36页
    2.2 实验部分第36-39页
        2.2.1 活性层量子点的合成第36-37页
        2.2.2 ZnO量子点墨水的配置第37页
        2.2.3 基于ZnO量子点墨水的全印刷光电探测器组装第37-38页
        2.2.4 表征方法第38-39页
    2.3 结果与讨论第39-53页
        2.3.1 室温ZnO量子点的制备及量子点墨水的配置第39-41页
        2.3.2 印刷组装量子点薄膜的微结构及光电性能研究第41-45页
        2.3.3 全印刷紫外光电探测器的构筑第45-46页
        2.3.4 不同后处理条件对全印刷ZnO基探测器的性能影响第46-50页
        2.3.5 全印刷工艺紫外探测器的优化性能及柔性展示第50-53页
    2.4 本章小结第53-54页
3 全溶液工艺构筑自驱动纤维状光电探测器第54-70页
    3.1 引言第54-55页
    3.2 实验部分第55-57页
        3.2.1 ZnO纳米棒阵列的原位生长第55-56页
        3.2.2 ZnO基纤维状、自驱动紫外光电探测器的构筑第56-57页
        3.2.3 表征方法第57页
    3.3 结果与讨论第57-69页
        3.3.1 ZnO纳米棒阵列的原位生长及微结构分析第57-61页
        3.3.2 ZnO基纤维状、自驱动紫外光电探测器的构筑第61-63页
        3.3.3 不同后处理条件对纤维状ZnO基探测器的影响及性能展示第63-66页
        3.3.4 纤维状ZnO基探测器的柔性及全方向光探测展示第66-69页
    3.4 本章小结第69-70页
4 全无机钙钛矿CsPbBr_3纳米晶基高灵敏可见光探测器第70-93页
    4.1 引言第70-71页
    4.2 实验部分第71-74页
        4.2.1 全无机钙钛矿CsPbBr_3 NCs及Au NCs的合成第71-73页
        4.2.2 基于全无机钙钛矿CsPbBr_3 NCs的高性能可见光探测器构筑第73-74页
        4.2.3 表征方法第74页
    4.3 结果与讨论第74-91页
        4.3.1 全无机钙钛矿CsPbBr_3 NCs及Au NCs的合成及微结构研究第74-79页
        4.3.2 基于全无机钙钛矿CsPbBr_3纳米晶的可见光探测器构筑及结构表征第79-82页
        4.3.3 不同成膜方式对全无机钙钛矿CsPbBr_3基探测器的性能影响第82-86页
        4.3.4 基于等离子增强的高性能全无机钙钛矿CsPbBr_3基探测器第86-91页
    4.4 本章小结第91-93页
5 全无机钙钛矿CsPbBr_3纳米片基高性能可见光探测器第93-110页
    5.1 引言第93-94页
    5.2 实验部分第94-97页
        5.2.1 全无机钙钛矿CsPbBr_3纳米片与Au NCs的合成第94-95页
        5.2.2 基于全无机钙钛矿CsPbBr_3纳米片的高性能可见光探测器构筑第95-96页
        5.2.3 表征方法第96-97页
    5.3 结果与讨论第97-109页
        5.3.1 全无机钙钛矿CsPbBr_3纳米片的合成及微结构研究第97-99页
        5.3.2 基于全无机钙钛矿CsPbBr_3纳米片的高性能可见光探测器构筑及性能研究第99-103页
        5.3.3 不同比例的Au NCs对器件性能的影响第103-109页
    5.4 本章小结第109-110页
6 结论与展望第110-113页
    6.1 本文结论第110-111页
    6.2 研究展望第111-113页
致谢第113-114页
参考文献第114-129页
附录第129-130页

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