基于闭环理论的自由曲面CMM测量和建模的研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
目录 | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-18页 |
·引言 | 第8页 |
·逆向工程的应用 | 第8-9页 |
·逆向工程关键技术 | 第9-12页 |
·数据获取 | 第9-11页 |
·数据处理 | 第11页 |
·曲面重构 | 第11-12页 |
·逆向工程的研究现状 | 第12-14页 |
·CMM自适应测量研究现状 | 第12-13页 |
·曲面重构技术研究现状 | 第13-14页 |
·有关建立测量和建模闭环系统的研究现状 | 第14页 |
·本文的选题意义 | 第14-15页 |
·本文的主要内容 | 第15-18页 |
·CMM自适应测量方法研究 | 第15-16页 |
·曲面重构方法研究 | 第16页 |
·检测点的确定 | 第16页 |
·测量与建模的动态联系 | 第16页 |
·重构模型误差分析 | 第16-18页 |
第二章 CMM测量技术研究 | 第18-32页 |
·引言 | 第18页 |
·CMM工作原理 | 第18页 |
·CMM测量路径规划 | 第18-25页 |
·测头和测头方向的选择 | 第19-21页 |
·测量点的确定 | 第21-23页 |
·触测矢量的确定 | 第23-25页 |
·避障点的确定 | 第25页 |
·尺寸测量接口规范(DMIS) | 第25-31页 |
·DMIS概述 | 第26页 |
·DMIS结构 | 第26-27页 |
·DMIS语句 | 第27-31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
第三章 CMM自适应测量方法研究 | 第32-46页 |
·引言 | 第32页 |
·已有的自适应测量 | 第32-35页 |
·圆弧插值法 | 第32-34页 |
·多项式预测法 | 第34-35页 |
·BEZIER曲率连续自适应测量 | 第35-39页 |
·Bezier曲线及其性质 | 第35-37页 |
·Bezier曲率连续自适应测量 | 第37-39页 |
·BEZIER曲率连续自适应测量实现 | 第39-41页 |
·初始序列点的测量 | 第40页 |
·后续待测点的测量 | 第40-41页 |
·BI-ZIER曲率连续自适应测量实例比较 | 第41-44页 |
·不同阶次Bezier自适应测量实例比较 | 第41-43页 |
·三种自适应测量实例比较 | 第43-44页 |
·实例比较结论 | 第44页 |
·本章小结 | 第44-46页 |
第四章 非均匀B样条曲面重构研究 | 第46-66页 |
·引言 | 第46页 |
·非均匀B样条曲面重构 | 第46-50页 |
·B样条曲线曲面的方程及其性质 | 第46-47页 |
·B样条曲线曲面类型的划分 | 第47-48页 |
·B样条曲线曲面重构对比实验 | 第48-50页 |
·非均匀B样条曲面重构过程 | 第50-51页 |
·非均匀B样条曲面重构方法及其实现 | 第51-59页 |
·节点矢量的确定 | 第51-52页 |
·非均匀B样条曲面控制点反算 | 第52-57页 |
·非均匀B样条曲线上的点 | 第57-59页 |
·非均匀B样条曲面显示 | 第59-62页 |
·OpenGL初始设置 | 第59页 |
·OpenGL的主要功能 | 第59-60页 |
·非均匀B样条曲面显示 | 第60-62页 |
·非均匀B样条曲面重构实例验证 | 第62-65页 |
·非均匀B样条曲面重构模块操作流程 | 第62页 |
·实验验证结果分析 | 第62-65页 |
·本章小结 | 第65-66页 |
第五章 测量-建模闭环系统的开发与应用 | 第66-80页 |
·引言 | 第66页 |
·测量-建模闭环系统的总体设计 | 第66-70页 |
·测量-建模闭环系统设计思路 | 第66-67页 |
·检测点的确定 | 第67-69页 |
·精度评价 | 第69-70页 |
·测量-建模闭环系统开发方法和主要模块 | 第70-73页 |
·开发方法 | 第70-71页 |
·主要模块 | 第71-73页 |
·测量-建模闭环系统的实现 | 第73-77页 |
·测量-建模闭环系统的应用 | 第77-79页 |
·本章小结 | 第79-80页 |
第六章 总结和展望 | 第80-82页 |
·全文工作总结 | 第80-81页 |
·后续研究工作展望 | 第81-82页 |
致谢 | 第82-84页 |
参考文献 | 第84-88页 |
附录:作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第88页 |