| 学位论文数据集 | 第3-4页 |
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 前言 | 第14-44页 |
| 1.1 研究背景 | 第14页 |
| 1.2 热电效应 | 第14-17页 |
| 1.2.1 塞贝克效应 | 第14-15页 |
| 1.2.2 帕尔帖效应 | 第15-16页 |
| 1.2.3 汤姆逊效应 | 第16-17页 |
| 1.3 热电应用 | 第17-19页 |
| 1.4 与热电参数相关的固体理论 | 第19-25页 |
| 1.4.1 载流子 | 第20-21页 |
| 1.4.2 声子 | 第21页 |
| 1.4.3 电学运输参数 | 第21-23页 |
| 1.4.4 热学运输特性 | 第23-25页 |
| 1.5 提高热电优值 | 第25-30页 |
| 1.5.1 优化载流子浓度 | 第26-27页 |
| 1.5.2 降低晶格热导率 | 第27-28页 |
| 1.5.3 能带工程 | 第28-30页 |
| 1.6 热电材料 | 第30-42页 |
| 1.6.1 合金类热电材料 | 第31-33页 |
| 1.6.2 氧化物热电材料 | 第33-38页 |
| 1.6.3 新型氧化物热电材料 | 第38-42页 |
| 1.7 研究内容及创新点 | 第42-44页 |
| 第2章 热电材料的制备及表征方法 | 第44-54页 |
| 2.1 粉末制备方法 | 第44-47页 |
| 2.1.1 固相法 | 第44页 |
| 2.1.2 自蔓延燃烧法(SHS) | 第44-47页 |
| 2.2 陶瓷块体制备方法 | 第47-48页 |
| 2.2.1 常压烧结 | 第47页 |
| 2.2.2 放电等离子烧结(SPS) | 第47-48页 |
| 2.3 热电材料表征方法 | 第48-49页 |
| 2.3.1 XRD表征 | 第48页 |
| 2.3.2 显微结构表征 | 第48-49页 |
| 2.4 热电性能表征方法 | 第49-54页 |
| 2.4.1 电学性能测试 | 第49页 |
| 2.4.2 热导率测试 | 第49-50页 |
| 2.4.3 样品密度测量 | 第50页 |
| 2.4.4 Hall系数的测试 | 第50-51页 |
| 2.4.5 其他测试方法 | 第51-54页 |
| 第3章 自蔓延工艺及性能研究 | 第54-68页 |
| 3.1 BiCuSeO粉末样品的制备以及烧结工艺的选择 | 第54-55页 |
| 3.2 Se过量BiCuSe_(1+x)O的制备及热电性能研究 | 第55-61页 |
| 3.2.1 物相分析 | 第55-56页 |
| 3.2.2 显微结构分析 | 第56-57页 |
| 3.2.3 电学性能分析 | 第57-59页 |
| 3.2.4 热学性能分析 | 第59-61页 |
| 3.3 Bi自缺位Bi_(1-x)CuSeO的制备及热电性能研究 | 第61-67页 |
| 3.3.1 物相分析 | 第61-62页 |
| 3.3.2 显微结构分析 | 第62-63页 |
| 3.3.3 电学性能分析 | 第63-65页 |
| 3.3.4 热学性能分析 | 第65-67页 |
| 3.4 本章小结 | 第67-68页 |
| 第4章 Na掺杂Bi_(1-x)Na_xCuSeO的制备及性能研究 | 第68-76页 |
| 4.1 物相分析 | 第68-69页 |
| 4.2 显微结构分析 | 第69-70页 |
| 4.3 电学性能分析 | 第70-72页 |
| 4.4 热学性能分析 | 第72-74页 |
| 4.5 本章小结 | 第74-76页 |
| 第5章 Na Pb双掺杂BiCuSeO制备及热电性能研究 | 第76-86页 |
| 5.1 Bi_(0.9-x)Pb_xNa_(0.1)CuSeO制备及热电性能研究 | 第76-85页 |
| 5.1.1 物相分析 | 第76-78页 |
| 5.1.2 显微结构分析 | 第78-79页 |
| 5.1.3 电学性能分析 | 第79-81页 |
| 5.1.4 热学性能分析 | 第81-85页 |
| 5.2 本章小结 | 第85-86页 |
| 第6章 结论 | 第86-88页 |
| 参考文献 | 第88-94页 |
| 致谢 | 第94-96页 |
| 研究成果及发表的学术论文 | 第96-98页 |
| 导师简介 | 第98-99页 |
| 附件 | 第99-100页 |
