高亮回转表面缺陷检测光照方法的研究及系统设计
| 摘要 | 第2-4页 |
| abstract | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 课题来源、背景及研究意义 | 第8页 |
| 1.1.1 课题来源 | 第8页 |
| 1.1.2 课题背景及意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8-12页 |
| 1.3 课题主要研究内容 | 第12-14页 |
| 2 检测照明系统的结构与原理 | 第14-24页 |
| 2.1 机械系统 | 第14页 |
| 2.2 图像采集系统 | 第14-16页 |
| 2.3 照明系统方案设计 | 第16-23页 |
| 2.3.1 照明光路的主要性能指标 | 第18-19页 |
| 2.3.2 LED光源 | 第19-21页 |
| 2.3.3 空间光调制技术 | 第21-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 3 LED准直光源的设计 | 第24-40页 |
| 3.1 LED光源准直 | 第24-33页 |
| 3.1.1 基于自由曲面的LED准直透镜 | 第24-25页 |
| 3.1.2 透射曲面母线坐标计算 | 第25-27页 |
| 3.1.3 全反射曲面母线坐标计算 | 第27-28页 |
| 3.1.4 准直透镜的建模与仿真结果 | 第28-33页 |
| 3.2 匀光系统 | 第33-36页 |
| 3.2.1 匀光方法及原理 | 第33-34页 |
| 3.2.2 匀光棒与复眼透镜阵列对比 | 第34-35页 |
| 3.2.3 复眼透镜设计原理 | 第35页 |
| 3.2.4 复眼透镜阵列的建模 | 第35-36页 |
| 3.3 LED光源的均匀性仿真与实验 | 第36-38页 |
| 3.4 本章小结 | 第38-40页 |
| 4 均匀条纹自适应光照方法 | 第40-56页 |
| 4.1 均匀条纹算法与系统投影模型 | 第40-47页 |
| 4.1.1 直条纹算法设计 | 第40-41页 |
| 4.1.2 圆条纹算法设计 | 第41-42页 |
| 4.1.3 Tracepro中验证均匀条纹算法 | 第42-47页 |
| 4.1.4 投影模型的建立 | 第47页 |
| 4.2 基于FPGA的DMD空间光调制 | 第47-51页 |
| 4.2.1 DMD调光原理 | 第47-48页 |
| 4.2.2 基于FPGA的DMD微镜控制方法 | 第48-51页 |
| 4.3 光强调制方案研究 | 第51-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-56页 |
| 5 照明系统对缺陷显现力的评价实验与分析 | 第56-68页 |
| 5.1 目标物的选择 | 第56页 |
| 5.2 照明光路的实验平台搭建 | 第56-59页 |
| 5.2.1 光路器件的选型 | 第56-58页 |
| 5.2.2 实验平台的搭建 | 第58-59页 |
| 5.3 实验过程 | 第59-63页 |
| 5.4 实验结果评价与分析 | 第63-66页 |
| 5.5 本章小结 | 第66-68页 |
| 6 总结与展望 | 第68-70页 |
| 6.1 总结 | 第68页 |
| 6.2 展望 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 在校期间发表的论文和专利 | 第76页 |
