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CICC导体测试装置的设计及性能研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
第1章 绪论第13-24页
    1.1 CICC导体的发展及测试需求第14-16页
    1.2 CICC导体测试装置的发展现状第16-22页
        1.2.1 SULTAN导体测试装置第16-17页
        1.2.2 EDIPO导体测试装置第17-19页
        1.2.3 FRESCA导体测试装置第19-20页
        1.2.4 SSTF导体测试装置第20页
        1.2.5 ITER CC导体测试装置第20-22页
    1.3 本课题研究的主要内容、意义及预期目标第22-24页
第2章 CICC导体测试装置的组成与理论性能分析第24-36页
    2.1 CICC导体测试装置组成第24-29页
        2.1.1 背景磁体第25-27页
        2.1.2 低温系统第27-28页
        2.1.3 超导电流源第28-29页
        2.1.4 样品测试杜瓦第29页
        2.1.5 数据采集与控制系统第29页
    2.2 超导变压器的电路理论分析第29-32页
        2.2.1 超导变压器电路方程第30-32页
    2.3 超导变压器绕组的参数设计与优化第32-35页
        2.3.1 导体测试样品自感L_d和超导接头电阻R_s第32-33页
        2.3.2 超导变压器绕组自感L_p和L_s第33-35页
    2.4 本章小结第35-36页
第3章 CICC导体测试装置的结构设计与研制第36-52页
    3.1 超导变压器的结构设计与研制第36-46页
        3.1.1 初级绕组结构设计与研制第37-38页
        3.1.2 初级绕组股线性能参数第38-40页
        3.1.3 次级绕组导体性能参数第40-42页
        3.1.4 次级绕组CICC导体稳定性分析理论第42-44页
        3.1.5 次级绕组结构设计与研制第44-46页
    3.2 导体测试样品的结构设计与研制第46-48页
    3.3 样品测试杜瓦的结构设计第48-51页
    3.4 本章小结第51-52页
第4章 CICC导体测试装置的电磁分析第52-76页
    4.1 自感计算第52-53页
        4.1.1 单根直导线的自感计算第52页
        4.1.2 线圈的自感计算第52-53页
    4.2 互感的计算第53-57页
        4.2.1 圆环之间的互感第54-55页
        4.2.2 矩形截面线圈之间的互感计算第55-57页
    4.3 磁场的计算第57-60页
        4.3.1 载流直导线的磁场分布第57-58页
        4.3.2 载流圆环的磁场分布第58-59页
        4.3.3 矩形截面螺管线圈的磁场分布第59-60页
    4.4 磁体储能第60-61页
    4.5 电磁分析的有限元方法简介第61-63页
        4.5.1 电磁分析有限元法的理论方程第61-63页
        4.5.2 有限元方法中的电磁场物理参数计算第63页
    4.6 CICC导体测试系统的电磁性能分析第63-74页
        4.6.1 背景磁体的电磁特性分析第63-66页
        4.6.2 导体测试样品的电磁特性分析第66-68页
        4.6.3 超导变压器绕组的电磁特性分析第68-74页
    4.7 本章小结第74-76页
第5章 CICC导体测试装置的力学性能及稳定性分析第76-99页
    5.1 ANSYS电磁-结构耦合分析方法第76-78页
    5.2 超导变压器绕组电磁-结构耦合分析第78-93页
        5.2.1 超导变压器绕组的电磁-结构耦合模型第78-79页
        5.2.2 超导变压器绕组的材料属性第79-81页
        5.2.3 边界条件及求解设置第81页
        5.2.4 有限元分析结果第81-93页
    5.3 超导变压器绕组之间的电磁力分析第93-97页
        5.3.1 非同轴线圈之间的电磁力分析第93-94页
        5.3.2 变压器绕组之间的电磁力分析第94-97页
    5.4 变压器绕组附属支撑部件的力学分析第97-98页
    5.5 本章小结第98-99页
第6章 CICC导体测试装置的热工水力分析理论第99-114页
    6.1 电流引线的传热分析第99-101页
    6.2 CICC导体的热工水力理论方程第101-103页
    6.3 导体样品的温度控制分析第103-106页
    6.4 超导接头的热流固耦合分析第106-108页
    6.5 导体测试装置中材料的热工水力属性第108-112页
        6.5.1 材料的电阻率第108-109页
        6.5.2 材料的热导率第109-111页
        6.5.3 材料的比热第111-112页
    6.6 本章小结第112-114页
第7章 CICC导体测试装置的实验研究与性能分析第114-129页
    7.1 霍尔元件检测次级回路电流方案第114-116页
        7.1.1 霍尔效应及测量电流原理第114-115页
        7.1.2 霍尔元件标定实验第115-116页
    7.2 Rogowski线圈测量次级回路电流方案第116-119页
        7.2.1 Rogowski线圈测量电流原理第116-117页
        7.2.2 Rogowski线圈结构设计与标定第117-118页
        7.2.3 Rogowski线圈用积分器第118-119页
    7.3 初级绕组低温通电实验第119-120页
    7.4 次级绕组的常温通电实验第120-121页
    7.5 CICC导体测试装置初步降温通电实验第121-127页
        7.5.1 实验准备及降温第121-123页
        7.5.2 通电实验及结果分析第123-127页
    7.6 本章小结第127-129页
第8章 全文总结与展望第129-132页
    8.1 主要研究内容及相关结果第129-130页
    8.2 具有创新意义的工作第130-131页
    8.3 后续工作展望第131-132页
参考文献第132-140页
附录第140-144页
致谢第144-146页
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果第146-147页

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