基于压电阻抗的转子损伤定量检测方法研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 1 绪论 | 第7-15页 |
| 1.1 结构的损伤检测 | 第7-10页 |
| 1.1.1 结构损伤检测的研究概况 | 第7-9页 |
| 1.1.2 结构损伤检测研究的核心问题和技术 | 第9-10页 |
| 1.2 转子系统的故障诊断 | 第10-11页 |
| 1.2.1 转子系统故障诊断的意义和研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 转子系统故障诊断的研究内容和基本环节 | 第11页 |
| 1.3 结构健康监测系统及其一般结构 | 第11-12页 |
| 1.4 压电陶瓷阻抗法的研究现状 | 第12-14页 |
| 1.5 课题来源及主要的研究内容 | 第14-15页 |
| 2 压电阻抗法的基本理论 | 第15-29页 |
| 2.1 压电现象和压电材料简介 | 第15-16页 |
| 2.2 压电效应及压电方程 | 第16-20页 |
| 2.2.1 压电效应 | 第16-17页 |
| 2.2.2 压电方程及压电常数 | 第17-20页 |
| 2.3 压电阻抗法 | 第20-22页 |
| 2.4 压电片的驱动响应分析 | 第22-24页 |
| 2.4.1 压电片的静态驱动响应分析 | 第22-23页 |
| 2.4.2 压电片的动态驱动响应分析 | 第23-24页 |
| 2.5 耦合电阻抗分析 | 第24-27页 |
| 2.6 本章小结 | 第27-29页 |
| 3 二阶自适应随机共振及其应用 | 第29-47页 |
| 3.1 随机共振的研究概况 | 第29-30页 |
| 3.2 双稳态随机共振理论 | 第30-31页 |
| 3.3 具有自适应性的快速随机共振 | 第31-36页 |
| 3.3.1 一种新型双稳态模型 | 第31-33页 |
| 3.3.2 一种自适应性迭代算法 | 第33-36页 |
| 3.4 数字仿真和比较 | 第36-42页 |
| 3.4.1 简谐振动信号分析 | 第36-39页 |
| 3.4.2 调幅振动信号分析 | 第39-42页 |
| 3.5 实验分析 | 第42-45页 |
| 3.6 本章小结 | 第45-47页 |
| 4 基于薄板理论的阻抗分析模型 | 第47-59页 |
| 4.1 薄板的概念及小挠度理论 | 第47-48页 |
| 4.2 薄板的振动 | 第48-52页 |
| 4.2.1 引述 | 第48-49页 |
| 4.2.2 薄板的自由振动和受迫振动 | 第49-50页 |
| 4.2.3 圆形薄板的振动 | 第50-51页 |
| 4.2.4 薄板振动的边界条件 | 第51-52页 |
| 4.3 薄板的机电耦合阻抗分析模型 | 第52-55页 |
| 4.4 低成本阻抗测试电路 | 第55-57页 |
| 4.5 机电耦合阻抗实验模型 | 第57-58页 |
| 4.6 本章小结 | 第58-59页 |
| 5 基于谱元法的转子损伤识别 | 第59-79页 |
| 5.1 谱方法、有限元法和谱元法 | 第59-62页 |
| 5.2 基于谱元法的数字分析模型 | 第62-66页 |
| 5.3 基于谱元法模型的损伤识别算法 | 第66-68页 |
| 5.4 基于损伤识别模型的数字案例分析 | 第68-73页 |
| 5.5 实验分析 | 第73-76页 |
| 5.6 本章小结 | 第76-79页 |
| 6 总结和展望 | 第79-81页 |
| 6.1 研究工作总结 | 第79-80页 |
| 6.2 未来工作展望 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81-83页 |
| 参考文献 | 第83-89页 |
| 附录 | 第89页 |
| A. 作者在攻读学位期间发表的论文目录： | 第89页 |
| B. 作者在攻读学位期间取得的科研成果目录： | 第89页 |
