高频电热应力下环氧树脂绝缘老化特性与寿命评估
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 选题背景及其意义 | 第9-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-17页 |
| 1.2.1 绝缘失效机理研究 | 第11-13页 |
| 1.2.2 绝缘老化中的局部放电研究 | 第13-15页 |
| 1.2.3 绝缘老化寿命模型研究 | 第15-17页 |
| 1.3 研究内容 | 第17-19页 |
| 第二章 实验平台搭建及局部放电信号测量和处理 | 第19-30页 |
| 2.1 实验平台 | 第19-22页 |
| 2.1.1 实验电源 | 第19-20页 |
| 2.1.2 实验箱体 | 第20-21页 |
| 2.1.3 信号检测回路 | 第21-22页 |
| 2.2 局部放电测量装置 | 第22-25页 |
| 2.3 局部放电信号处理 | 第25-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 基于局部放电特征量的绝缘老化特性研究 | 第30-47页 |
| 3.1 局部放电特性 | 第30-35页 |
| 3.1.1 正弦电压下局部放电机理 | 第30-32页 |
| 3.1.2 局部放电特征参量 | 第32-35页 |
| 3.2 绝缘电热老化实验步骤 | 第35-37页 |
| 3.2.1 绝缘老化实验模型 | 第35-36页 |
| 3.2.2 绝缘老化实验条件的确定 | 第36页 |
| 3.2.3 绝缘老化实验步骤 | 第36-37页 |
| 3.2.4 绝缘老化程度的判断 | 第37页 |
| 3.3 实验结果及分析 | 第37-45页 |
| 3.3.1 局部放电基本参量的变化规律 | 第37-39页 |
| 3.3.2 局部放电相位分布的变化规律 | 第39-41页 |
| 3.3.3 局部放电统计参量的变化规律 | 第41-43页 |
| 3.3.4 讨论 | 第43-45页 |
| 3.4 本章小结 | 第45-47页 |
| 第四章 基于Weibull统计的绝缘老化寿命评估 | 第47-60页 |
| 4.1 Weibull分布 | 第47-50页 |
| 4.2 绝缘寿命模型的实验方案 | 第50-53页 |
| 4.2.1 绝缘寿命的测试模型 | 第50页 |
| 4.2.2 寿命测试的实验步骤 | 第50-51页 |
| 4.2.3 绝缘寿命统计 | 第51-53页 |
| 4.3 绝缘老化寿命评估 | 第53-58页 |
| 4.3.1 电压幅值的影响 | 第53-54页 |
| 4.3.2 电压频率的影响 | 第54-56页 |
| 4.3.3 温度的影响 | 第56-57页 |
| 4.3.4 多因子绝缘寿命评估 | 第57-58页 |
| 4.4 本章小结 | 第58-60页 |
| 第五章 结论与展望 | 第60-62页 |
| 5.1 结论 | 第60-61页 |
| 5.2 后续工作及展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文及其它成果 | 第66-67页 |
| 攻读硕士学位期间参加的科研工作 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
