| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 课题研究的背景和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 无刷直流电机驱动系统 | 第11-15页 |
| 1.2.1 电子元器件高温可靠性 | 第11-12页 |
| 1.2.2 无刷直流电机的基本结构 | 第12-15页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.4 本文研究内容 | 第16-17页 |
| 第2章 元器件高温特性研究 | 第17-33页 |
| 2.1 引言 | 第17页 |
| 2.2 电子元器件高温试验方案 | 第17-19页 |
| 2.2.1 元器件的选择 | 第17页 |
| 2.2.2 高温试验方案设计 | 第17-18页 |
| 2.2.3 高温试验步骤 | 第18-19页 |
| 2.3 电子元器件高温试验及特性研究 | 第19-32页 |
| 2.3.1 电阻器高温试验及特性研究 | 第19-20页 |
| 2.3.2 电容器温度试验及特性研究 | 第20-25页 |
| 2.3.3 电感温度试验 | 第25-26页 |
| 2.3.4 门电路高温试验 | 第26-28页 |
| 2.3.5 运算放大器高温试验 | 第28-30页 |
| 2.3.6 电力MOSFET高温试验 | 第30-32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 高温环境对永磁电机驱动系统影响分析 | 第33-47页 |
| 3.1 引言 | 第33页 |
| 3.2 高温条件下参数变化对永磁电机驱动系统影响 | 第33-34页 |
| 3.3 高温条件下参数变化对开关电源影响 | 第34-37页 |
| 3.4 高温条件下参数变化对永磁电机控制性能的影响 | 第37-40页 |
| 3.5 高温环境下对电机控制系统常用子系统影响仿真 | 第40-44页 |
| 3.5.1 滤波器影响 | 第40-41页 |
| 3.5.2 过流保护影响 | 第41-42页 |
| 3.5.3 锁相环 | 第42-44页 |
| 3.6 高温环境对电机控制部分损耗影响 | 第44-46页 |
| 3.7 本章小结 | 第46-47页 |
| 第4章 高温环境下永磁电机控制系统性能理论分析 | 第47-61页 |
| 4.1 引言 | 第47页 |
| 4.2 开关电源电路电流连续时的数学模型建立 | 第47-50页 |
| 4.2.1 开关电源电路开环数学模型建立 | 第47-49页 |
| 4.2.2 开关电源闭环数学模型建立 | 第49-50页 |
| 4.3 元器件参数变化对开关电源性能影响分析 | 第50-53页 |
| 4.3.1 输出电感、输出电容变化对开关电源影响分析 | 第51页 |
| 4.3.2 根轨迹法分析高温环境下参数变化对开关电源影响分析 | 第51-52页 |
| 4.3.3 比例积分调节器影响分析 | 第52-53页 |
| 4.4 无刷直流电机控制系统数学模型建立及高温环境分析 | 第53-57页 |
| 4.4.1 无刷直流电机本体数学模型 | 第53-54页 |
| 4.4.2 无刷直流电机控制系统受参数影响分析 | 第54-57页 |
| 4.5 锁相环数学模型建立与高温环境分析 | 第57-58页 |
| 4.6 高温环境下直流母线电容参数变化影响分析 | 第58-60页 |
| 4.7 本章小结 | 第60-61页 |
| 第5章 永磁电机驱动系统常用子系统高温试验 | 第61-65页 |
| 5.1 引言 | 第61页 |
| 5.2 低通滤波器高温试验 | 第61-62页 |
| 5.3 模拟PI调节器高温试验 | 第62-63页 |
| 5.4 过流保护电路高温试验 | 第63-64页 |
| 5.5 本章小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
