四分之一波片法测量双折射技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10页 |
| 1.2 偏振双折射的国内外研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 偏光干涉法 | 第11-12页 |
| 1.2.2 光谱扫描法 | 第12页 |
| 1.2.3 干涉法 | 第12页 |
| 1.2.4 调制法 | 第12-13页 |
| 1.2.5 补偿法 | 第13页 |
| 1.3 本课题主要研究内容 | 第13-14页 |
| 1.4 论文章节安排 | 第14-15页 |
| 第2章 双折射测量的原理分析 | 第15-29页 |
| 2.1 偏振和偏振光原理分析 | 第15-20页 |
| 2.1.1 光波的偏振态 | 第15-18页 |
| 2.1.2 偏振光的琼斯矢量 | 第18-20页 |
| 2.2 偏振器件概述及其数学模型 | 第20-26页 |
| 2.2.1 线偏振器 | 第21-22页 |
| 2.2.2 晶片 | 第22-23页 |
| 2.2.3 偏振器件的琼斯矩阵 | 第23-26页 |
| 2.3 晶体的双折射原理分析 | 第26-28页 |
| 2.3.1 晶体的双折射现象 | 第26-27页 |
| 2.3.2 双折射光程差 | 第27-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 四分之一波片法测量双折射系统设计 | 第29-43页 |
| 3.1 测试原理 | 第29-31页 |
| 3.2 系统测试流程 | 第31-33页 |
| 3.3 重要组件的选取 | 第33-42页 |
| 3.3.1 光源 | 第33-34页 |
| 3.3.2 起偏器与检偏器 | 第34-35页 |
| 3.3.3 四分之一波片组件 | 第35-36页 |
| 3.3.4 步进电机及其驱动 | 第36-39页 |
| 3.3.5 数据采集系统 | 第39-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 系统测控软件设计 | 第43-56页 |
| 4.1 测试软件需求及流程 | 第43-44页 |
| 4.2 测试软件功能实现 | 第44-53页 |
| 4.2.1 初始化步进电机 | 第45-47页 |
| 4.2.2 初始化数据采集卡 | 第47-49页 |
| 4.2.3 控制各事件发生 | 第49-50页 |
| 4.2.4 求解待测样品的双折射光程差 | 第50-53页 |
| 4.3 软件的设计模式 | 第53-54页 |
| 4.4 软件前面板 | 第54-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-56页 |
| 第5章 测试精度分析及实验结果 | 第56-64页 |
| 5.1 测试精度分析 | 第56-60页 |
| 5.1.1 起偏器方位角误差引起的测量误差 | 第56-57页 |
| 5.1.2 1/4 波片定位偏差引起的测量误差 | 第57-59页 |
| 5.1.3 样品的方位角误差 | 第59-60页 |
| 5.1.4 检偏器的旋转定位误差 | 第60页 |
| 5.2 测试实验结果 | 第60-61页 |
| 5.3 精度分析软件 | 第61-62页 |
| 5.4 本章小结 | 第62-64页 |
| 结论 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
