| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7页 |
| 1 引言 | 第12-18页 |
| 1.1 研究背景 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.3 电场探头的校准方法 | 第14页 |
| 1.4 校准场的产生方法 | 第14-15页 |
| 1.5 校准参数 | 第15-17页 |
| 1.6 论文主要工作 | 第17-18页 |
| 2 电场探头校准系统 | 第18-32页 |
| 2.1 电场探头校准系统的组成 | 第18-21页 |
| 2.1.1 净功率的计算 | 第19-20页 |
| 2.1.2 电场强度的计算 | 第20-21页 |
| 2.2 TEM小室 | 第21-24页 |
| 2.2.1 TEM小室的结构 | 第22页 |
| 2.2.2 TEM小室的电气特性 | 第22-23页 |
| 2.2.3 TEM小室的频率限制 | 第23-24页 |
| 2.3 信号发生器 | 第24-25页 |
| 2.4 功率放大器 | 第25-27页 |
| 2.5 大功率衰减器 | 第27-28页 |
| 2.6 功率计 | 第28页 |
| 2.7 电场探头的工作原理 | 第28-29页 |
| 2.8 电场探头的性能参数 | 第29-32页 |
| 2.8.1 频率响应 | 第29-30页 |
| 2.8.2 线性度响应 | 第30页 |
| 2.8.3 各向同性响应 | 第30-32页 |
| 3 TEM小室的仿真与测量 | 第32-44页 |
| 3.1 TEM小室的仿真 | 第32-40页 |
| 3.1.1 横截面场分布的仿真 | 第32-34页 |
| 3.1.2 纵向电场分布的仿真 | 第34-35页 |
| 3.1.3 横截面场均匀性的仿真 | 第35-39页 |
| 3.1.4 加入探头对TEM小室内电场分布影响的仿真 | 第39-40页 |
| 3.2 TEM小室的测量 | 第40-44页 |
| 3.2.1 纵向电场分布的测量 | 第40-42页 |
| 3.2.2 横截面场均匀性的测量 | 第42-43页 |
| 3.2.3 加入探头对TEM小室内电场分布影响的测量 | 第43-44页 |
| 4 系统不确定度的评定 | 第44-57页 |
| 4.1 测量不确定度 | 第44-45页 |
| 4.2 测量不确定度的来源 | 第45-46页 |
| 4.3 不确定度测量模型的建立 | 第46-47页 |
| 4.4 电场探头校准系统的不确定度影响量分析 | 第47-55页 |
| 4.4.1 衰减器的衰减倍数导致的不确定度分量 | 第47页 |
| 4.4.2 衰减器的线性引入的不确定度 | 第47-48页 |
| 4.4.3 功率计探头校准因子C以及功率计探头线性的不确定度 | 第48-49页 |
| 4.4.4 TEM小室从输入到输出的衰减修正因子M_0的不确定度 | 第49页 |
| 4.4.5 衰减器输入端口的失配修正因子M_1的不确定度 | 第49-50页 |
| 4.4.6 衰减器输出端口的失配修正因子M_2的不确定度 | 第50页 |
| 4.4.7 TEM小室阻抗实部的测量不确定度 | 第50-51页 |
| 4.4.8 TEM小室芯板高度的测量不确定度 | 第51页 |
| 4.4.9 TEM小室内的驻波引入的不确定度 | 第51-52页 |
| 4.4.10 TEM小室内场均匀性引入的不确定度 | 第52-53页 |
| 4.4.11 探头插入TEM小室引起的场强变化导致的不确定度 | 第53页 |
| 4.4.12 探头摆放位置引入的不确定度 | 第53-54页 |
| 4.4.13 重复性测量引入的不确定度 | 第54页 |
| 4.4.14 探头卡具引入的不确定度 | 第54-55页 |
| 4.5 不确定度汇总表 | 第55-57页 |
| 5 自动测试软件的设计与实现 | 第57-69页 |
| 5.1 LabVIEW软件介绍 | 第57页 |
| 5.2 自动测试软件需求分析 | 第57-58页 |
| 5.3 自动测试软件模块化设计 | 第58-68页 |
| 5.3.1 数据管理模块设计 | 第60-61页 |
| 5.3.2 执行测试模块设计 | 第61-65页 |
| 5.3.3 生成报告模块设计 | 第65-67页 |
| 5.3.4 系统设置模块设计 | 第67-68页 |
| 5.4 自动测试软件的验证 | 第68-69页 |
| 6 结论 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |
| 作者简历及攻读硕士/博士学位期间取得的研究成果 | 第72-74页 |
| 学位论文数据集 | 第74页 |
