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FPGA原型验证平台存储系统的设计与实现

摘要第10-11页
ABSTRACT第11-12页
第一章 绪论第13-16页
    1.1 引言第13页
    1.2 研究的意义与挑战第13-14页
    1.3 本文的主要工作第14-15页
    1.4 论文结构第15-16页
第二章 FPGA原型验证平台介绍第16-28页
    2.1 FPGA概述第16-22页
        2.1.1 FPGA的发展及应用第16-17页
        2.1.2 FPGA的工作原理第17-18页
        2.1.3 FPGA芯片的基本架构第18-20页
        2.1.4 Xilinx Virtex-7 系列FPGA特点第20-22页
    2.2 FPGA原型验证平台介绍第22-26页
        2.2.1 FPGA原型验证平台的基本架构第22-24页
        2.2.2 FPGA原型验证板第24-25页
        2.2.3 FPGA设计开发流程介绍第25-26页
        2.2.4 FPGA原型验证测试程序第26页
    2.3 FPGA原型验证平台实现需要注意的问题第26-27页
    2.4 小结第27-28页
第三章 FPGA验证平台内部存储系统的设计与实现第28-50页
    3.1 DDR3 SDRAM介绍第28-33页
        3.1.1 DDR3 SDRAM结构第28-29页
        3.1.2 DDR3 SDRAM特性第29-30页
        3.1.3 DDR3 SDRAM命令解析第30-31页
        3.1.4 DDR3 SDRAM工作过程第31-33页
    3.2 AXI4总线介绍第33-35页
        3.2.1 AXI4总线介绍第33页
        3.2.2 AXI4总线读事务过程第33-34页
        3.2.3 AXI4总线写事务过程第34-35页
    3.3 DDR3 SDRAM控制器的实现与分析第35-46页
        3.3.1 DDR3 SDRAM控制器实现过程第35-37页
        3.3.2 DDR3 SDRAM控制器整体架构第37-38页
        3.3.3 AXI4 Slave模块分析第38-39页
        3.3.4 Ui_top模块分析第39-40页
        3.3.5 MC模块分析第40-43页
        3.3.6 PHY模块分析第43-46页
        3.3.7 Infrastructure与Iodelayctrl模块分析第46页
    3.4 DDR3 SDRAM控制器验证与结果第46-49页
    3.5 小结第49-50页
第四章 FPGA验证平台外部存储系统的设计与实现第50-67页
    4.1 SD存储卡规范及APB总线简述第50-54页
        4.1.1 SD结构与特征介绍第50-52页
        4.1.2 命令、响应以及数据传输总线简述第52-53页
        4.1.3 APB总线简述第53-54页
    4.2 SD卡控制器整体架构设计第54-55页
    4.3 APB总线模块第55-56页
    4.4 跨时钟域缓冲模块第56-57页
    4.5 SD总线控制器模块第57-63页
        4.5.1 初始化与识别模式控制模块第58-60页
        4.5.2 数据传输模式控制模块第60-61页
        4.5.3 时钟控制模块第61-62页
        4.5.4 CRC校验第62-63页
    4.6 仿真与FPGA功能验证第63-66页
    4.7 小结第66-67页
第五章 FPGA原型验证平台存储系统的测试第67-74页
    5.1 FPGA原型验证平台存储系统的测试方案第67-68页
    5.2 测试程序分析第68-71页
        5.2.1 操作系统简述第68-69页
        5.2.2 Stream第69-71页
    5.3 测试结果分析第71-72页
        5.3.1 验证平台存储系统整体性能提升第71-72页
        5.3.2 Stream测试结果分析第72页
    5.4 FPGA原型验证平台实际应用第72-73页
    5.5 小结第73-74页
第六章 总结与展望第74-76页
    6.1 研究工作总结第74页
    6.2 后期工作展望第74-76页
致谢第76-77页
参考文献第77-80页
作者在学期间取得的学术成果第80页

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