适用于压力传感器的EEPROM的研究与设计
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第1章 绪论 | 第9-17页 |
1.1 论文研究背景和意义 | 第9-10页 |
1.2 存储器的发展历史与现状 | 第10-14页 |
1.3 压力传感器的发展历史与现状 | 第14-15页 |
1.4 论文的工作内容和结构安排 | 第15-17页 |
第2章 EEPROM的原理与芯片的整体结构 | 第17-23页 |
2.1 EEPROM的结构单元 | 第17-18页 |
2.2 EEPROM的工作原理 | 第18-19页 |
2.3 EEPROM芯片的整体设计与设计流程 | 第19-22页 |
2.4 本章小结 | 第22-23页 |
第3章 模拟电路部分的设计 | 第23-55页 |
3.1 存储阵列 | 第23-24页 |
3.2 高压产生电路 | 第24-44页 |
3.2.1 两相非交叠时钟产生电路 | 第24-25页 |
3.2.2 电荷泵电路 | 第25-32页 |
3.2.3 稳压电路 | 第32-44页 |
3.3 灵敏放大器 | 第44-50页 |
3.4 电压切换电路 | 第50-54页 |
3.4.1 V_(SG)电压切换电路 | 第50-52页 |
3.4.2 V_(CG)电压切换电路 | 第52-53页 |
3.4.3 VD电压切换电路 | 第53-54页 |
3.5 本章小结 | 第54-55页 |
第4章 数字电路部分的设计 | 第55-65页 |
4.1 译码电路和寄存器电路 | 第55-61页 |
4.1.1 地址译码电路 | 第55-58页 |
4.1.2 寄存器电路 | 第58-61页 |
4.2 时序控制电路 | 第61-62页 |
4.3 I/O接口电路 | 第62-64页 |
4.4 本章小结 | 第64-65页 |
第5章 整体电路的性能优化与功能测试 | 第65-84页 |
5.1 读取电路的性能优化与功能测试 | 第65-71页 |
5.1.1 灵敏放大器的功耗优化 | 第65-68页 |
5.1.2 灵敏放大器的功能测试 | 第68-71页 |
5.2 擦写电路的性能优化与功能测试 | 第71-78页 |
5.2.1 带隙基准电压源的功耗优化 | 第71-73页 |
5.2.2 电荷泵的功率优化 | 第73-76页 |
5.2.3 升压电路的功能验证 | 第76-78页 |
5.3 整体电路的功能验证 | 第78-83页 |
5.3.1 擦除操作的功能验证 | 第79-80页 |
5.3.2 编写操作的功能验证 | 第80-81页 |
5.3.3 读取操作的功能验证 | 第81-83页 |
5.4 本章小结 | 第83-84页 |
总结与展望 | 第84-87页 |
参考文献 | 第87-90页 |
致谢 | 第90页 |