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专用电路测试方法的研究与实现

摘要第1-6页
Abstract第6-9页
第1章 绪论第9-14页
   ·自动测试技术的背景和意义第9页
   ·自动测试系统的发展历程及现状第9-10页
   ·电路故障的分类第10-13页
   ·课题研究的主要内容和组织结构第13-14页
第2章 电路测试技术第14-29页
   ·电路测试技术及测试生成第14-16页
   ·数字电路常用测试方法第16-24页
     ·单路径敏化法第16-17页
     ·布尔差分算法第17-18页
     ·故障树分析法第18-24页
   ·模拟电路常用测试方法第24-29页
     ·故障字典法第24-27页
     ·人工智能方法第27-29页
第3章 人工智能在电路故障诊断中的应用研究第29-43页
   ·人工神经网络概述第29-31页
   ·基于神经网络的电路故障诊断第31-33页
   ·BP 网络结构及原理介绍第33-36页
   ·神经网络电路诊断实例第36-43页
     ·实际电路模型第36-37页
     ·诊断过程第37-42页
     ·实例总结第42-43页
第4章 电路板故障诊断分析第43-63页
   ·电路板各部分电路介绍第43页
   ·电路逻辑结构及原理第43-53页
   ·故障树的建立及分析第53-58页
     ·存储单元故障树第54-55页
     ·串行输入输出故障树第55-57页
     ·可编程外部接口模块故障树第57页
     ·电源故障树第57-58页
     ·CPU 芯片故障诊断第58页
   ·故障树的搜索实现第58-63页
     ·数据结构设计第58-60页
     ·故障树搜索实现第60-63页
总结第63-65页
参考文献第65-68页
致谢第68页

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