专用电路测试方法的研究与实现
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
第1章 绪论 | 第9-14页 |
·自动测试技术的背景和意义 | 第9页 |
·自动测试系统的发展历程及现状 | 第9-10页 |
·电路故障的分类 | 第10-13页 |
·课题研究的主要内容和组织结构 | 第13-14页 |
第2章 电路测试技术 | 第14-29页 |
·电路测试技术及测试生成 | 第14-16页 |
·数字电路常用测试方法 | 第16-24页 |
·单路径敏化法 | 第16-17页 |
·布尔差分算法 | 第17-18页 |
·故障树分析法 | 第18-24页 |
·模拟电路常用测试方法 | 第24-29页 |
·故障字典法 | 第24-27页 |
·人工智能方法 | 第27-29页 |
第3章 人工智能在电路故障诊断中的应用研究 | 第29-43页 |
·人工神经网络概述 | 第29-31页 |
·基于神经网络的电路故障诊断 | 第31-33页 |
·BP 网络结构及原理介绍 | 第33-36页 |
·神经网络电路诊断实例 | 第36-43页 |
·实际电路模型 | 第36-37页 |
·诊断过程 | 第37-42页 |
·实例总结 | 第42-43页 |
第4章 电路板故障诊断分析 | 第43-63页 |
·电路板各部分电路介绍 | 第43页 |
·电路逻辑结构及原理 | 第43-53页 |
·故障树的建立及分析 | 第53-58页 |
·存储单元故障树 | 第54-55页 |
·串行输入输出故障树 | 第55-57页 |
·可编程外部接口模块故障树 | 第57页 |
·电源故障树 | 第57-58页 |
·CPU 芯片故障诊断 | 第58页 |
·故障树的搜索实现 | 第58-63页 |
·数据结构设计 | 第58-60页 |
·故障树搜索实现 | 第60-63页 |
总结 | 第63-65页 |
参考文献 | 第65-68页 |
致谢 | 第68页 |