粘声介质高斯束偏移方法研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 前言 | 第9-15页 |
| 1.1 论文研究的目的及意义 | 第9-11页 |
| 1.1.1 粘介质基本理论 | 第9-10页 |
| 1.1.2 偏移成像方法 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 论文主要研究内容 | 第14-15页 |
| 第二章 高斯束的基本性质 | 第15-32页 |
| 2.1 引言 | 第15-16页 |
| 2.2 射线追踪方法基本原理 | 第16-21页 |
| 2.3 高斯束方法的基本原理及基本性质 | 第21-26页 |
| 2.3.1 高斯束方法的基本原理 | 第21-23页 |
| 2.3.2 高斯束的数值求解 | 第23-25页 |
| 2.3.3 高斯束的基本性质 | 第25-26页 |
| 2.4 基于高斯束的积分波场 | 第26-31页 |
| 2.4.1 高斯束方法中的格林函数 | 第27-30页 |
| 2.4.2 高斯束方法中的平面波 | 第30-31页 |
| 2.5 小结 | 第31-32页 |
| 第三章 粘声介质高斯束偏移方法 | 第32-57页 |
| 3.1 引言 | 第32-34页 |
| 3.2 粘声介质高斯束偏移 | 第34-39页 |
| 3.2.1 粘声介质中的格林函数 | 第34-35页 |
| 3.2.2 粘声介质叠后高斯束偏移 | 第35-37页 |
| 3.2.3 粘声介质叠前高斯束偏移 | 第37-39页 |
| 3.3 流程设计及算法优化 | 第39-43页 |
| 3.3.1 流程设计 | 第40页 |
| 3.3.2 算法优化 | 第40-43页 |
| 3.4 模型试算 | 第43-49页 |
| 3.4.1 叠后偏移模型试算 | 第43-45页 |
| 3.4.2 叠前偏移模型试算 | 第45-49页 |
| 3.5 粘声介质高斯束ADCIGs提取 | 第49-56页 |
| 3.5.1 方法原理 | 第51-53页 |
| 3.5.2 模型试算 | 第53-56页 |
| 3.6 小结 | 第56-57页 |
| 第四章 偏移影响因素分析 | 第57-64页 |
| 4.1 引言 | 第57页 |
| 4.2 偏移影响因素分析 | 第57-63页 |
| 4.2.1 初始宽度 | 第57-59页 |
| 4.2.2 束中心的间隔 | 第59-61页 |
| 4.2.3 初始射线参数间隔 | 第61-63页 |
| 4.3 小结 | 第63-64页 |
| 总结与展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-72页 |
| 攻读硕士学位期间取得的学术成果 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
