摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-20页 |
§1-1 前言 | 第8页 |
§1-2 锗的相关化学性质 | 第8-9页 |
§1-3 合成过程中的影响因素 | 第9-11页 |
1-3-1 溶剂 | 第9页 |
1-3-2 有机胺 | 第9页 |
1-3-3 氢氟酸 | 第9-10页 |
1-3-4 pH | 第10页 |
1-3-5 温度 | 第10页 |
1-3-6 时间 | 第10页 |
1-3-7 其它影响因素 | 第10-11页 |
§1-4 结构单元簇 | 第11-16页 |
1-4-1 Ge7 (Ge7X19, X = O, OH, F) 簇 | 第11-13页 |
1-4-2 Ge9 (Ge9Xn, n=25-26, X = O, OH, F) 簇 | 第13-14页 |
1-4-3 骨架结构中的混合聚集体 | 第14页 |
1-4-4 Ge10 (Ge10X28, X =O, OH, F)簇 | 第14-16页 |
§1-5 硅修饰的锗酸盐类分子筛 | 第16-18页 |
§1-6 本课题的研究目的与内容 | 第18-19页 |
1-6-1 本课题的研究目的 | 第18页 |
1-6-2 本课题的研究内容 | 第18-19页 |
§1-7 本文所用的表征方法和测试手段 | 第19-20页 |
第二章 锗酸盐类分子筛的合成 | 第20-26页 |
§2-1 前言 | 第20页 |
§2-2 实验部分 | 第20-25页 |
2-2-1 试剂及仪器 | 第20-22页 |
2-2-2 样品制备 | 第22-24页 |
2-2-3 纯锗酸盐 | 第24-25页 |
§2-3 本章小结 | 第25-26页 |
第三章 Si 修饰的含有 Ge9簇锗酸盐的制备与表征 | 第26-37页 |
§3-1 前言 | 第26页 |
§3-2 实验部分 | 第26-27页 |
§3-3 表征及其结构 | 第27-36页 |
3-3-1 SEM | 第27-28页 |
3-3-2 单晶X-射线衍射 | 第28-30页 |
3-3-3 粉末XRD 数据 | 第30-34页 |
3-3-4 FT-IR 分析 | 第34-35页 |
3-3-5 TG-DTA 分析 | 第35-36页 |
§3-4 本章小结 | 第36-37页 |
第四章 Si 修饰的 Ge10聚集体:单晶 Na4(Ge/Si)9020的制备与表征 | 第37-43页 |
§4-1 前言 | 第37页 |
§4-2 合成、表征及其结构 | 第37-42页 |
§4-3 本章小结 | 第42-43页 |
第五章 锗酸盐材料的储氢性能探索 | 第43-49页 |
§5-1 前言 | 第43页 |
§5-2 实验部分 | 第43-45页 |
5-2-1 材料合成 | 第43-44页 |
5-2-2 样品表征 | 第44页 |
5-2-3 储氢性能的测试 | 第44-45页 |
§5-3 离子交换 | 第45-46页 |
§5-4 X033 的储氢性能 | 第46-48页 |
§5-5 本章小结 | 第48-49页 |
第六章 结论 | 第49-50页 |
参考文献 | 第50-55页 |
附录A | 第55-56页 |
附录B | 第56-60页 |
附录C | 第60-64页 |
致谢 | 第64-65页 |
攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第65页 |