| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第12-14页 |
| 缩略语对照表 | 第14-18页 |
| 第一章 绪论 | 第18-28页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第18-19页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第18页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第18-19页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第19-25页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第19-22页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第22-25页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第25-28页 |
| 第二章 红外导引头成像特性分析 | 第28-44页 |
| 2.1 红外导引头基本结构与成像过程 | 第28-30页 |
| 2.1.1 红外导引头基本结构 | 第28-29页 |
| 2.1.2 红外导引头成像过程 | 第29-30页 |
| 2.2 气动环境下整流罩介质特性分析 | 第30-35页 |
| 2.2.1 整流罩气动效应产生机理 | 第30-31页 |
| 2.2.2 整流罩热传输计算 | 第31-33页 |
| 2.2.3 气动环境下整流罩折射率特征分析 | 第33-35页 |
| 2.3 红外导引头光学系统 | 第35-38页 |
| 2.3.1 红外导引头光学系统设计要求 | 第35-36页 |
| 2.3.2 光学系统的能量传输过程 | 第36-37页 |
| 2.3.3 光学系统像差产生机理 | 第37-38页 |
| 2.4 红外导引头探测器系统 | 第38-41页 |
| 2.4.1 探测器成像体制与材料类型 | 第38-39页 |
| 2.4.2 探测器的关键性能参数 | 第39-41页 |
| 2.5 红外导引头信号处理系统 | 第41-42页 |
| 2.6 本章小结 | 第42-44页 |
| 第三章 红外导引头成像系统物理效应建模仿真 | 第44-66页 |
| 3.1 红外导引头成像特征工程化建模框架 | 第44-45页 |
| 3.2 红外导引头光学系统效应建模仿真 | 第45-52页 |
| 3.2.1 红外导引头光学系统建模仿真流程 | 第45页 |
| 3.2.2 红外成像导引头光学系统设计指标 | 第45-46页 |
| 3.2.3 导引头光学系统在Zemax软件下的建模流程 | 第46-47页 |
| 3.2.4 Zemax软件下的光学系统结构设计与像差分析 | 第47-51页 |
| 3.2.5 导引头光学系统的能量衰减建模 | 第51页 |
| 3.2.6 红外导引头光学系统效应仿真 | 第51-52页 |
| 3.3 红外导引头探测器效应建模仿真 | 第52-62页 |
| 3.3.1 典型探测器建模参数 | 第53页 |
| 3.3.2 探测器物理效应建模仿真 | 第53-62页 |
| 3.4 红外导引头信号处理系统建模仿真 | 第62-64页 |
| 3.4.1 信号处理系统物理效应建模 | 第63页 |
| 3.4.2 信号处理系统物理效应仿真 | 第63-64页 |
| 3.5 本章小节 | 第64-66页 |
| 第四章 气动效应影响下的导引头成像特征建模仿真 | 第66-90页 |
| 4.1 整流罩气动效应建模 | 第66-70页 |
| 4.1.1 气动效应建模基本方法 | 第66-67页 |
| 4.1.2 高空大气条件及整流罩材料属性 | 第67页 |
| 4.1.3 整流罩外流场及整流罩窗口的几何建模 | 第67-69页 |
| 4.1.4 气动效应的热固耦合计算 | 第69-70页 |
| 4.2 Fluent软件下整流罩流场仿真的参数设置 | 第70-73页 |
| 4.2.1 Fluent求解器设置 | 第70-71页 |
| 4.2.2 湍流模型选择 | 第71页 |
| 4.2.3 材料单元属性与边界条件设置 | 第71-73页 |
| 4.2.4 材料温度设置与仿真初始化 | 第73页 |
| 4.3 不同飞行条件下的整流罩气动效应仿真 | 第73-84页 |
| 4.3.1 整流罩气动效应仿真框架 | 第73-74页 |
| 4.3.2 Fluent仿真软件下的气动效应仿真流程 | 第74-75页 |
| 4.3.3 相同飞行高度、不同飞行速度下的气动效应仿真 | 第75-79页 |
| 4.3.4 相同飞行速度、不同飞行高度下的气动效应仿真 | 第79-84页 |
| 4.4 整流罩气动效应仿真结果分析 | 第84-88页 |
| 4.4.1 不同飞行条件下气动效应的系统点扩散函数分析 | 第84-85页 |
| 4.4.2 不同飞行条件下气动效应成像质量分析 | 第85-88页 |
| 4.5 本章小结 | 第88-90页 |
| 第五章 激光干扰红外导引头成像特征建模仿真 | 第90-106页 |
| 5.1 激光辐射特性及干扰实验分析 | 第90-91页 |
| 5.2 激光干扰面阵CCD的饱和效应分析 | 第91-94页 |
| 5.2.1 面阵CCD电荷产生与传输过程 | 第91-93页 |
| 5.2.2 饱和串扰效应产生机理 | 第93-94页 |
| 5.3 激光干扰红外导引头的信号饱和阈值建模 | 第94-97页 |
| 5.4 激光干扰红外导引头成像特征仿真 | 第97-104页 |
| 5.4.1 激光干扰红外导引头的成像仿真流程 | 第97页 |
| 5.4.2 系统像面上的激光辐照度分布建模 | 第97-98页 |
| 5.4.3 不同激光入射条件下的干扰效应仿真 | 第98-102页 |
| 5.4.4 激光干扰仿真结果分析 | 第102-104页 |
| 5.5 本章小结 | 第104-106页 |
| 第六章 总结与展望 | 第106-108页 |
| 参考文献 | 第108-112页 |
| 致谢 | 第112-114页 |
| 作者简介 | 第114-115页 |
