| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 1 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第11-12页 |
| 1.2 聚酰亚胺简介 | 第12-14页 |
| 1.2.1 聚酰亚胺的性能 | 第12-13页 |
| 1.2.2 聚酰亚胺的改性 | 第13-14页 |
| 1.3 聚酰亚胺基纳米复合绝缘材料的国内外研究现状 | 第14-16页 |
| 1.3.1 国内研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3.2 国外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.4 论文研究目的及主要研究工作 | 第16-19页 |
| 2 聚酰亚胺基BN微纳米复合薄膜制备 | 第19-27页 |
| 2.1 制备原料与仪器 | 第19-21页 |
| 2.1.1 聚酰亚胺基原料 | 第19-20页 |
| 2.1.2 BN微纳米填料 | 第20-21页 |
| 2.1.3 制备仪器介绍 | 第21页 |
| 2.2 聚酰亚胺的合成原理 | 第21-23页 |
| 2.2.1 聚酰胺酸的生成 | 第21-22页 |
| 2.2.2 聚酰胺酸的亚胺化 | 第22-23页 |
| 2.3 聚酰亚胺基BN微纳米复合电介质的制备 | 第23-26页 |
| 2.3.1 聚酰胺酸的制备 | 第23-24页 |
| 2.3.2 铺膜及亚胺化过程 | 第24-25页 |
| 2.3.3 聚酰亚胺薄膜的后处理 | 第25-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 3 基本介电性能测试与分析 | 第27-57页 |
| 3.1 击穿特性测试与分析 | 第27-37页 |
| 3.1.1 介电击穿理论 | 第27页 |
| 3.1.2 击穿强度测试设备及方法 | 第27-29页 |
| 3.1.3 BN微纳米复合薄膜的击穿强度测试结果及分析 | 第29-33页 |
| 3.1.4 击穿场强的威布尔分布 | 第33-35页 |
| 3.1.5 BN微纳米复合薄膜的击穿孔形貌 | 第35-37页 |
| 3.2 介电常数与介质损耗测试与分析 | 第37-47页 |
| 3.2.1 介电常数及介质损耗的测试原理 | 第37-39页 |
| 3.2.2 介电常数测试结果及分析 | 第39-43页 |
| 3.2.3 介质损耗测试结果及分析 | 第43-47页 |
| 3.3 I-t特性测试与分析 | 第47-55页 |
| 3.3.1 I-t特性测试 | 第47-48页 |
| 3.3.2 I-t特性测试结果及分析 | 第48-53页 |
| 3.3.3 体积电阻率计算结果及分析 | 第53-55页 |
| 3.4 本章小结 | 第55-57页 |
| 4 聚酰亚胺基BN微纳米复合薄膜的耐电晕老化特性 | 第57-63页 |
| 4.1 耐电晕老化时间的测试方法 | 第57-58页 |
| 4.2 BN微纳米复合薄膜结构特征 | 第58-59页 |
| 4.3 聚酰亚胺基BN微纳米复合薄膜耐电晕老化能力 | 第59-61页 |
| 4.4 本章小结 | 第61-63页 |
| 5 聚酰亚胺基BN微纳米复合薄膜的导热特性 | 第63-75页 |
| 5.1 高导热绝缘高分子复合材料的导热机理 | 第63-64页 |
| 5.2 导热系数实验测试仪器及原理 | 第64-67页 |
| 5.3 聚酰亚胺基BN微纳米复合薄膜导热系数测试结果及分析 | 第67-69页 |
| 5.4 实验结果与理论模型的对比 | 第69-73页 |
| 5.4.1 Maxwell-Eucken模型 | 第69-70页 |
| 5.4.2 Bruggeman模型 | 第70页 |
| 5.4.3 Hamilton-Crosser模型 | 第70-71页 |
| 5.4.4 Cheng-Vachon模型 | 第71页 |
| 5.4.5 实验结果与各种模型计算结果对比 | 第71-73页 |
| 5.5 本章小结 | 第73-75页 |
| 6 结论与展望 | 第75-77页 |
| 6.1 结论 | 第75-76页 |
| 6.2 展望 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-81页 |
| 作者简历 | 第81页 |
| 发表的论文 | 第81-85页 |
| 学位论文数据集 | 第85页 |
