| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第13-16页 |
| 1.1 研究背景 | 第13-14页 |
| 1.2 研究内容 | 第14页 |
| 1.3 论文结构安排 | 第14-16页 |
| 第二章 密码芯片测试技术 | 第16-28页 |
| 2.1 密码芯片测试 | 第16-20页 |
| 2.1.1 芯片测试内容与方法 | 第16-18页 |
| 2.1.2 密码芯片密码测试内容与方法 | 第18-20页 |
| 2.1.3 密码芯片测试的特点 | 第20页 |
| 2.2 基于流程管理的密码芯片测试 | 第20-25页 |
| 2.2.1 过程管理 | 第20-21页 |
| 2.2.2 基于流程管理的密码芯片测试系统组成结构 | 第21-22页 |
| 2.2.3 基于流程管理的密码芯片测试原理 | 第22-25页 |
| 2.3 过程模型建模方法与良构性分析技术 | 第25-27页 |
| 2.3.1 密码芯片测试系统中需要解决的问题 | 第25页 |
| 2.3.2 四种过程描述模型建模方法 | 第25-27页 |
| 2.3.3 过程良构性分析验证技术 | 第27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 测试流程三维描述模型 | 第28-54页 |
| 3.1 测试流程实例分析 | 第28-31页 |
| 3.1.1 流程设计核心思想 | 第28-29页 |
| 3.1.2 流程实例 | 第29-31页 |
| 3.2 测试流程描述模型的需求分析 | 第31-32页 |
| 3.2.1 基本需求 | 第31页 |
| 3.2.2 扩展需求 | 第31-32页 |
| 3.3 测试流程三维描述模型 | 第32-50页 |
| 3.3.1 三维描述模型的组成及其相互关系 | 第32-33页 |
| 3.3.2 控制过程元模型 | 第33-45页 |
| 3.3.3 测试资源元模型 | 第45-47页 |
| 3.3.4 数据元模型 | 第47-50页 |
| 3.4 测试流程良构性约束规则 | 第50-53页 |
| 3.5 三维模型描述实例 | 第53页 |
| 3.6 本章小结 | 第53-54页 |
| 第四章 基于Petri网的测试流程活性分析 | 第54-67页 |
| 4.1 测试流程活性问题 | 第54-55页 |
| 4.2 使用Petri网的原因分析 | 第55-56页 |
| 4.3 测试流程模型转换 | 第56-63页 |
| 4.3.1 转换思路 | 第56-57页 |
| 4.3.2 转换规则 | 第57-61页 |
| 4.3.3 活性一致性分析 | 第61-63页 |
| 4.4 测试流程活性分析应用实例 | 第63-66页 |
| 4.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 基于完备树的测试流程或分支完整性验证 | 第67-80页 |
| 5.1 测试流程中或分支完整性问题 | 第67-68页 |
| 5.2 或分支完整性验证原理过程 | 第68-72页 |
| 5.3 完备树的构造 | 第72-74页 |
| 5.4 或分支完整性的验证 | 第74-77页 |
| 5.5 或分支完整性验证应用实例 | 第77-79页 |
| 5.6 本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 6.1 工作总结 | 第80-81页 |
| 6.2 研究展望 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-87页 |
| 作者简历 | 第87-88页 |
| 附录A | 第88-90页 |
| 附录B | 第90-94页 |
| 附录C | 第94-95页 |