提高供电企业电气设备试验仪器集成度的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| ·选题背景及其研究意义 | 第10页 |
| ·电气设备试验发展现状及研究动态 | 第10-13页 |
| ·电气设备试验分类 | 第10-11页 |
| ·电气设备试验的地位和作用 | 第11-12页 |
| ·电气设备试验结果的分析和判断 | 第12-13页 |
| ·国内外研究动态 | 第13页 |
| ·本文的主要工作 | 第13-15页 |
| 第2章 供电企业电气设备现场试验内容分析 | 第15-23页 |
| ·调研报告情况概述 | 第15页 |
| ·直流电源试验类内容分析 | 第15-17页 |
| ·直流电阻测量 | 第15-16页 |
| ·绝缘电阻测量 | 第16页 |
| ·直流泄漏电流测量和直流耐压试验 | 第16页 |
| ·直流电源试验类分析小结 | 第16-17页 |
| ·交流电源试验类内容分析 | 第17-21页 |
| ·变压器空载试验 | 第17页 |
| ·变压器短路特性试验 | 第17-18页 |
| ·变比试验 | 第18页 |
| ·线路工频参数测量 | 第18页 |
| ·介质损耗因数测量 | 第18-19页 |
| ·局部放电测量 | 第19-20页 |
| ·交流耐压试验 | 第20页 |
| ·交流电源试验类分析小结 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-23页 |
| 第3章 多功能参数测量仪硬件设计 | 第23-51页 |
| ·多功能参数测量仪的原理及其组成 | 第23-25页 |
| ·数据处理单元 | 第25-34页 |
| ·单片机MCU | 第25-29页 |
| ·单片机的最小系统设计 | 第29-32页 |
| ·外部存储器的扩展 | 第32-34页 |
| ·日历时钟电路 | 第34页 |
| ·逻辑控制单元 | 第34-36页 |
| ·可编程逻辑器件 | 第35-36页 |
| ·可编程逻辑器件的硬件电路设计 | 第36页 |
| ·数据采集单元 | 第36-47页 |
| ·变换器的选型 | 第37-38页 |
| ·前端信号调理电路 | 第38-43页 |
| ·A/D 采样电路 | 第43-45页 |
| ·相角测量电路 | 第45-46页 |
| ·频率测量电路 | 第46-47页 |
| ·人机接口单元 | 第47-49页 |
| ·液晶显示电路 | 第47-48页 |
| ·键盘接口电路 | 第48-49页 |
| ·数据通信单元 | 第49-50页 |
| ·串口通信电路 | 第49页 |
| ·USB 通信电路 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第4章 多功能参数测量仪软件设计 | 第51-68页 |
| ·单片机软件开发环境 | 第51-54页 |
| ·集成开发环境 | 第51-53页 |
| ·Keil ULINK2 仿真器 | 第53页 |
| ·开发语言 | 第53-54页 |
| ·多功能参数测量仪软件系统设计 | 第54-62页 |
| ·数据采集子程序 | 第55-56页 |
| ·数据处理子程序 | 第56页 |
| ·串口通信子程序 | 第56-57页 |
| ·日历时钟子程序 | 第57-59页 |
| ·外部EEPROM 子程序 | 第59-61页 |
| ·键盘扫描子程序 | 第61-62页 |
| ·液晶显示子程序 | 第62页 |
| ·可编程逻辑器件的软件设计 | 第62-66页 |
| ·Quartus II 硬件编译环境 | 第63-64页 |
| ·硬件描述语言VHDL | 第64-65页 |
| ·利用VHDL 语言进行PLD 程序设计 | 第65页 |
| ·可编程逻辑器件PLD 仿真结果 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-68页 |
| 第5章 结论 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文及其他成果 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 详细摘要 | 第75-83页 |
