双狭缝扫描光束质量分析系统设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-11页 |
| 1.1 课题研究的背景与意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8-9页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第9页 |
| 1.4 章节安排 | 第9-11页 |
| 第2章 激光光束质量评价系统 | 第11-23页 |
| 2.1 激光产生原理 | 第11-14页 |
| 2.1.1 能级概念 | 第11页 |
| 2.1.2 偏振椭圆 | 第11页 |
| 2.1.3 激光产生机理 | 第11-13页 |
| 2.1.4 激光特性 | 第13-14页 |
| 2.2 高斯光束的特点 | 第14-16页 |
| 2.3 光束各个参数的计算和测量 | 第16-22页 |
| 2.3.1 光束位置 | 第16-17页 |
| 2.3.2 束宽 | 第17-18页 |
| 2.3.3 发散角 | 第18-19页 |
| 2.3.4 M~2因子 | 第19-22页 |
| 2.4 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 嵌入式图像处理技术 | 第23-31页 |
| 3.1 嵌入式系统应用技术概述 | 第23-25页 |
| 3.1.1 嵌入式系统的特点 | 第23-24页 |
| 3.1.2 嵌入式系统的阶段发展 | 第24-25页 |
| 3.2 嵌入式图像处理技术研究 | 第25-26页 |
| 3.2.1 图像处理及系统概述 | 第25页 |
| 3.2.2 嵌入式图像处理系统的特点 | 第25-26页 |
| 3.3 DMA总结 | 第26-27页 |
| 3.4 图形用户界面及Qt/Embedded | 第27-30页 |
| 3.4.0 图形用户界面的选取 | 第27-28页 |
| 3.4.1 Qt/Embedded的结构 | 第28-29页 |
| 3.4.2 Qt/Embedded信号与插槽机制 | 第29-30页 |
| 3.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第4章 系统功能与总体设计 | 第31-38页 |
| 4.1 系统总体设计 | 第31-32页 |
| 4.2 测量原理介绍及硬件平台设计 | 第32-34页 |
| 4.2.1 M~2扩展系统原理与测量方法 | 第32-33页 |
| 4.2.2 狭缝扫描仪原理与测量方法 | 第33-34页 |
| 4.3 系统中软件程序设计 | 第34-36页 |
| 4.4 显示界面框架图设计 | 第36-37页 |
| 4.5 本章小结 | 第37-38页 |
| 第5章 测量精度与误差分析 | 第38-44页 |
| 5.1 测量结果 | 第38-40页 |
| 5.2 测量精度 | 第40-41页 |
| 5.3 误差分析 | 第41-43页 |
| 5.3.1 光学系统导致的误差 | 第41-42页 |
| 5.3.2 运动引起的束宽测量误差 | 第42页 |
| 5.3.3 计算公式导致的误差 | 第42-43页 |
| 5.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 第6章 总结与展望 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-47页 |
| 作者简介及科研成果 | 第47-48页 |
| 致谢 | 第48页 |
