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面向功能安全要求的EPS控制器硬件架构分析与测试

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第1章 绪论第11-21页
    1.1 研究背景和意义第11-12页
    1.2 电动助力转向系统简介第12-15页
        1.2.1 EPS的组成结构原理及特点第12-14页
        1.2.2 EPS的发展现状第14-15页
    1.3 功能安全国内外研究现状第15-19页
        1.3.1 国外功能安全研究现状第15-18页
        1.3.2 国内功能安全研究现状第18-19页
    1.4 本文主要研究内容第19-21页
第2章 功能安全对EPS控制器硬件的要求第21-33页
    2.1 功能安全的概念与标准第21-24页
        2.1.1 功能安全的概念第21-22页
        2.1.2 功能安全标准ISO 26262第22-23页
        2.1.3 汽车安全生命周期第23-24页
    2.2 EPS控制器硬件功能安全的开发研究第24-25页
    2.3 EPS控制器功能安全要求的分析第25-28页
        2.3.1 EPS控制器的危害分析和风险评估第25-27页
        2.3.2 EPS控制器ASIL等级确定第27-28页
    2.4 EPS控制器硬件功能安全指标的确定第28-32页
        2.4.1 EPS控制器的失效形式和故障分类第28-30页
        2.4.2 硬件架构指标计算研究第30-32页
        2.4.3 随机硬件失效指标计算研究第32页
        2.4.4 EPS控制器硬件指标目标值第32页
    2.5 本章小结第32-33页
第3章 EPS控制器架构的功能安全分析第33-53页
    3.1 EPS控制器硬件架构的分析第33-37页
        3.1.1 双MCU EPS控制器的架构分析第33-35页
        3.1.2 双核MCU EPS控制器的架构分析第35-37页
    3.2 EPS控制器的失效模式与后果分析第37-44页
        3.2.1 FMEA分析方法的研究第37页
        3.2.2 EPS控制器FMEA分析实验第37-41页
        3.2.3 EPS控制器FMEA分析结果第41-44页
    3.3 EPS控制器的故障树分析第44-51页
        3.3.1 FTA分析方法研究第44-45页
        3.3.2 故障树分析软件Isograph第45-46页
        3.3.3 EPS控制器硬件的故障树分析过程第46-51页
    3.4 本章小结第51-53页
第4章 EPS控制器电路方案设计和功能安全分析第53-69页
    4.1 EPS控制器的ASIL等级分解第53-54页
    4.2 MCU系统电路的设计与分析第54-59页
        4.2.1 MCU系统电路的硬件设计第54-55页
        4.2.2 MCU系统电路的功能安全分析第55-58页
        4.2.3 MCU系统电路功能安全方案设计第58-59页
    4.3 预驱电路的设计与分析第59-61页
        4.3.1 预驱电路的硬件设计第59页
        4.3.2 预驱电路的功能安全分析第59-61页
        4.3.3 预驱电路功能安全方案设计第61页
    4.4 传感器信号采集电路的设计与分析第61-64页
        4.4.1 传感器信号采集电路的设计第61-62页
        4.4.2 传感器信号采集电路的功能安全分析第62-63页
        4.4.3 传感器信号采集电路功能安全方案设计第63-64页
    4.5 供电电路的设计与分析第64-68页
        4.5.1 供电电路的硬件设计第64-66页
        4.5.2 供电电路的功能安全分析第66-67页
        4.5.3 供电电路功能安全方案设计第67-68页
    4.6 本章小结第68-69页
第5章 EPS控制器功能安全测试研究第69-89页
    5.1 测试的目的第69页
    5.2 测试的方案第69-76页
        5.2.1 测试的方法研究第69-70页
        5.2.2 测试用例设计第70-75页
        5.2.3 测试用例模型的建立第75页
        5.2.4 自动测试方法的实现第75-76页
        5.2.5 测试的评价方法第76页
    5.3 测试仿真模型的建立第76-84页
        5.3.1 故障模型的建立第76-80页
        5.3.2 故障的处理策略第80-82页
        5.3.3 自动测试模型第82-84页
    5.4 测试的过程及结果第84-86页
    5.5 测试的结论第86-87页
    5.6 本章小结第87-89页
第6章 全文总结及展望第89-91页
    6.1 全文总结第89-90页
    6.2 全文展望第90-91页
参考文献第91-95页
附录第95-103页
致谢第103页

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