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纳米针尖对阻变存储器性能改善的研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
第一章 绪论第12-22页
    1.1 半导体存储器介绍第12-13页
    1.2 新型存储器介绍第13-18页
        1.2.1 分离电荷存储器第14页
        1.2.2 铁电存储器第14-15页
        1.2.3 磁性存储器第15-16页
        1.2.4 相变存储器第16-17页
        1.2.5 阻变存储器第17-18页
    1.3 研究意义及研究内容第18-20页
        1.3.1 研究意义第18页
        1.3.2 研究内容第18-20页
    参考文献第20-22页
第二章 阻变存储器概述第22-34页
    2.1 阻变存储器的材料体系第22-24页
        2.1.1 有机材料第22页
        2.1.2 复杂氧化物第22-23页
        2.1.3 二元金属氧化物第23页
        2.1.4 固态电解液材料第23-24页
    2.2 阻变存储器的存储机制第24-30页
        2.2.1 导电细丝机制第24-25页
        2.2.2 SCLC模型第25-26页
        2.2.3 肖特基发射效应第26-28页
        2.2.4 SV模型第28页
        2.2.5 Frenkel-Pool发射模型第28-30页
    2.3 本章小结第30-31页
    参考文献第31-34页
第三章 纳米针尖制备工艺研究第34-54页
    3.1 纳米针尖介绍第34-36页
        3.1.1 场发射针尖第34页
        3.1.2 RRAM中的纳米针尖第34-36页
    3.2 纳米针尖的制备方法第36-37页
    3.3 针尖制备第37-49页
        3.3.1 光刻工艺介绍第37-41页
        3.3.2 刻蚀工艺介绍第41-46页
        3.3.3 制备纳米针尖第46-49页
    3.4 本章小结第49-50页
    参考文献第50-54页
第四章 基于纳米针尖的阻变存储器的研究第54-68页
    4.1 引言第54-55页
    4.2 阻变存储器的基本特性第55-58页
        4.2.1 阻变过程的描述第55-56页
        4.2.2 阻变的操作模式第56-57页
        4.2.3 性能评价参数第57-58页
    4.3 基于纳米针尖的RRAM制备第58-60页
    4.4 器件性能研究第60-65页
        4.4.1 HfOx材料表征第60-61页
        4.4.2 平面与针尖Cu/HfOx/Pt器件基本电学特性对比第61-65页
    4.5 本章小结第65-66页
    参考文献第66-68页
第五章 结论第68-70页
    5.1 论文工作总结第68页
    5.2 对未来研究工作的展望第68-70页
致谢第70-72页
作者和导师介绍第72-73页
北京化工大学专业学位硕士研究生学位论文答辩委员会决议书第73-74页

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