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基于Virtex-6的四通道信号采集与发生控制模块的设计与实现

摘要第5-6页
abstract第6页
第一章 绪论第10-15页
    1.1 研究的背景及意义第10-11页
    1.2 国内外的发展现状及趋势第11-12页
    1.3 设计概述、研究内容与设计指标第12-13页
        1.3.1 设计概述第12页
        1.3.2 研究内容与设计指标第12-13页
    1.4 论文章节安排第13-15页
第二章 四通道信号采集与发生控制模块的总体设计第15-22页
    2.1 芯片选型第15-18页
        2.1.1 FPGA芯片选型第16页
        2.1.2 时钟芯片选型第16-17页
        2.1.3 A/D芯片选型第17-18页
        2.1.4 D/A芯片选型第18页
    2.2 设计方案阐述第18-21页
        2.2.1 时钟方案第18-19页
        2.2.2 数据处理方案第19-20页
        2.2.3 芯片控制接口处理方案第20-21页
    2.3 本章小结第21-22页
第三章 四通道信号采集与发生控制模块的硬件设计第22-36页
    3.1 时钟模块硬件设计第22-24页
    3.2 A/D模块硬件设计第24-29页
        3.2.1 ADS62P49有关的计算第24-25页
        3.2.2 ADS62P49的硬件电路第25-27页
        3.2.3 ADS62P49与FPGA的连接第27-29页
    3.3 D/A模块硬件设计第29-33页
        3.3.1 DAC3283的引脚配置第29-30页
        3.3.2 DAC3283的FIFO设置第30-32页
        3.3.3 DAC3283与FPGA的连接第32-33页
    3.4 ADC和DAC的控制信号处理电路第33-35页
    3.5 本章小结第35-36页
第四章 FPGA逻辑设计第36-57页
    4.1 时钟模块的FPGA逻辑设计第36-41页
        4.1.1 AD9518的SPI时序设计第36-37页
        4.1.2 AD9518的分频计算第37-39页
        4.1.3 AD9518的一次配置第39-41页
    4.2 ADS62P49的FPGA逻辑设计第41-46页
        4.2.1 ADS62P49的SPI控制协议的实现第41-43页
        4.2.2 ADS62P49的初始化配置的存储第43-44页
        4.2.3 ADS62P49的一次配置第44-46页
    4.3 DAC3283的FPGA逻辑设计第46-56页
        4.3.1 DAC3283的SPI控制协议的实现第47-48页
        4.3.2 DAC3283的初始化配置的存储第48页
        4.3.3 IP Core生成多种频率的时钟信号第48页
        4.3.4 时钟信号、帧信号、发送使能信号的产生第48-51页
        4.3.5 数据位宽转换的处理第51-52页
        4.3.6 DDS模块的设计第52-55页
        4.3.7 芯片一次配置的实现第55-56页
    4.4 本章小结第56-57页
第五章 FPGA动态重构的流程及实现第57-69页
    5.1 使用XPS创建处理器硬件系统第58-60页
    5.2 使用ISE创建重构模块第60-61页
    5.3 为USER_LOGIC部分同步重构模块逻辑第61页
    5.4 使用PlanAhead实现重构区域的划分及全部比特流的生成第61-65页
    5.5 使用SDK创建处理器软件系统第65-66页
    5.6 使用ISE命令行工具合成比特流第66-67页
    5.7 使用iMPACT工具将合成的比特流转换为MCS文件第67页
    5.8 FPGA动态重构结果的测试第67-69页
第六章 测试与调试第69-85页
    6.1 AD9518的调试与测试第69-73页
        6.1.1 ChipScope实测前的准备第69-70页
        6.1.2 ChipScope配置AD9518第70-71页
        6.1.3 配置时钟芯片产生的问题及解决方法第71-73页
    6.2 DAC3283的调试与测试第73-81页
        6.2.0 DDS正弦波模块的测试第73-75页
        6.2.1 DDS方波模块的测试第75页
        6.2.2 ChipScope配置DAC3283第75-76页
        6.2.3 使用DDS测试DAC3283第76-79页
        6.2.4 使用频谱分析仪对DAC的性能测试第79-80页
        6.2.5 测试DAC3283遇到的问题及解决办法第80-81页
    6.3 ADS62P49的调试与测试第81-84页
        6.3.1 ChipScope配置ADS62P49第81页
        6.3.2 ADS62P49有效位数ENOB的测试第81-82页
        6.3.3 使用正弦波测试ADS62P49第82-83页
        6.3.4 测试ADS62P49遇到的问题及解决办法第83-84页
    6.4 综合测试第84-85页
第七章 总结与展望第85-88页
    7.1 总结第85-87页
    7.2 下一步的工作第87-88页
致谢第88-89页
参考文献第89-91页
附录第91-94页

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