EAST上电子回旋辐射成像诊断系统的屏蔽优化研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| ·EAST托克马克装置及其诊断技术 | 第11-12页 |
| ·毫米波技术 | 第12-15页 |
| ·被动毫米波成像技术 | 第13页 |
| ·热力学辐射定律 | 第13页 |
| ·毫米波辐射测量原理 | 第13-14页 |
| ·毫米波成像诊断技术 | 第14-15页 |
| ·国内外托卡马克装置上的电子回旋辐射成像诊断系统 | 第15-16页 |
| ·本文研究内容和意义 | 第16-17页 |
| 第二章 EAST上电子回旋辐射成像诊断系统 | 第17-32页 |
| ·电子回旋辐射诊断基本原理 | 第17页 |
| ·EAST ECEI的可行性研究 | 第17-20页 |
| ·EAST上电子回旋辐射成像诊断系统 | 第20-28页 |
| ·前端准光学成像系统 | 第21-25页 |
| ·天线阵列及一次混频系统 | 第25-26页 |
| ·中频电子学系统 | 第26-28页 |
| ·ECEI系统的电子学系统平台调试 | 第28-31页 |
| ·Offset设置 | 第28-29页 |
| ·VCO频率修正和偏压测试 | 第29页 |
| ·中频电子学系统频率响应和线性工作区间测试 | 第29-31页 |
| ·中频电子学系统的衰减调节 | 第31-32页 |
| 第三章 384道ECEI成像诊断系统的运行及改善 | 第32-48页 |
| ·384道EAST ECEI的搭建及运行 | 第32-34页 |
| ·判断反转面位置 | 第34-35页 |
| ·384道ECEI系统的数据分析 | 第35-36页 |
| ·锯齿破裂的行为描述 | 第36-37页 |
| ·384道ECEI系统的改善措施 | 第37-48页 |
| ·中频电子学系统的供电电源 | 第37-42页 |
| ·供电电源的结构 | 第37-38页 |
| ·中频电源的功能 | 第38-39页 |
| ·处理电路的原理 | 第39页 |
| ·控制电路的原理 | 第39-41页 |
| ·输出电路的原理 | 第41-42页 |
| ·中频电源电路的制作与相关测试 | 第42-46页 |
| ·中频电源电路的制作 | 第42-44页 |
| ·中频电源的相关测试 | 第44-46页 |
| ·ECEI系统受到LHCD的干扰 | 第46-48页 |
| 第四章 384道ECEI诊断系统的屏蔽优化升级 | 第48-63页 |
| ·电磁兼容技术 | 第48-52页 |
| ·屏蔽的分类 | 第48-49页 |
| ·屏蔽作用原理 | 第49-50页 |
| ·屏蔽效能 | 第50页 |
| ·孔隙 | 第50-52页 |
| ·384道ECEI屏蔽现状 | 第52-53页 |
| ·384道ECEI屏蔽优化方案 | 第53-56页 |
| ·屏蔽优化后实验初步结果 | 第56-57页 |
| ·屏蔽盒的设计 | 第57-58页 |
| ·屏蔽盒测试 | 第58-63页 |
| 第五章 总结与展望 | 第63-66页 |
| ·工作总结 | 第63页 |
| ·工作展望 | 第63-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第70页 |
