| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| ·课题背景及研究目的和意义 | 第9-10页 |
| ·ZnO 的研究现状及其制备方法 | 第10-12页 |
| ·溶胶-凝胶法（Sol-Gel） | 第11页 |
| ·激光溅射沉积技术（PLD） | 第11页 |
| ·分子束外延法（MBE） | 第11-12页 |
| ·化学气相沉积技术（CVD） | 第12页 |
| ·喷雾热解法（Sprayer Pyrolysis） | 第12页 |
| ·LB 技术组装纳米粒子膜的研究现状 | 第12-14页 |
| ·LB 技术组装纳米材料的方法 | 第13页 |
| ·利用LB 技术组装排布纳米材料的应用 | 第13-14页 |
| ·ZnO 纳米棒的研究现状及其生长方法 | 第14-15页 |
| ·超声波法和微波法 | 第14页 |
| ·水热法 | 第14-15页 |
| ·化学溶液沉积法 | 第15页 |
| ·模板法 | 第15页 |
| ·论文主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 实验材料与表征测试方法 | 第17-23页 |
| ·实验试剂与设备 | 第17-18页 |
| ·实验试剂 | 第17页 |
| ·实验仪器及实验设备 | 第17-18页 |
| ·基片处理 | 第18-19页 |
| ·ZnO 种子膜的制备 | 第19-20页 |
| ·硬脂酸/Zn~(2+)复合LB 薄膜的制备 | 第19-20页 |
| ·热分解法制备ZnO 种子膜 | 第20页 |
| ·ZnO 纳米棒的制备 | 第20-21页 |
| ·生长液的制备 | 第20-21页 |
| ·ZnO 纳米棒的生长 | 第21页 |
| ·本论文实验测试方法 | 第21-23页 |
| ·膜压-膜面积曲线的测定方法 | 第21页 |
| ·X 射线衍射（XRD）分析 | 第21页 |
| ·扫描电子显微镜（SEM）分析 | 第21页 |
| ·紫外-可见光谱（UV-Vis）分析 | 第21-23页 |
| 第3章 ZnO 种子膜的制备与表征 | 第23-39页 |
| ·前言 | 第23页 |
| ·硬脂酸/Zn~(2+)成膜工艺参数的确定 | 第23-27页 |
| ·亚相浓度对硬脂酸/Zn~(2+) Langmuir 膜崩溃压的影响 | 第23-24页 |
| ·铺展量对硬脂酸/Zn~(2+) Langmuir 膜崩溃压的影响 | 第24-26页 |
| ·滑障速度对硬脂酸/Zn~(2+) Langmuir 膜崩溃压的影响 | 第26页 |
| ·静止时间对硬脂酸/Zn~(2+) Langmuir 膜崩溃压的影响 | 第26-27页 |
| ·硬脂酸/Zn~(2+)拉膜工艺参数的确定 | 第27-29页 |
| ·转移膜压对转移比的影响 | 第27-28页 |
| ·提拉速度对转移比的影响 | 第28-29页 |
| ·ZnO 种子膜制备过程的参数确定 | 第29-30页 |
| ·ZnO 种子膜的表征 | 第30-37页 |
| ·XRD 分析 | 第30-32页 |
| ·UV-Vis 吸收光谱分析 | 第32-34页 |
| ·SEM 形貌观察及分析 | 第34-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 第4章 ZnO 纳米棒的制备及表征 | 第39-58页 |
| ·前言 | 第39页 |
| ·恒温干燥方式制备ZnO 纳米棒的过程及分析 | 第39-51页 |
| ·影响ZnO 纳米棒生长参数的确定 | 第39-40页 |
| ·XRD 检测结果及分析讨论 | 第40-42页 |
| ·UV-Vis 检测结果及分析讨论 | 第42页 |
| ·SEM 表征结果及分析讨论 | 第42-51页 |
| ·恒温水浴方式制备ZnO 纳米棒的过程及分析 | 第51-57页 |
| ·影响ZnO 纳米棒生长参数的确定 | 第51页 |
| ·XRD 检测结果及分析讨论 | 第51-52页 |
| ·UV-Vis 检测结果及分析讨论 | 第52-53页 |
| ·SEM 表征结果及分析讨论 | 第53-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-65页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
