利用成像测井资料提高常规测井薄层分辨率的方法研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-13页 |
| ·研究的目的和意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-11页 |
| ·主要研究内容及创新点 | 第11-13页 |
| 第2章 薄层的定义及其测井响应特征 | 第13-23页 |
| ·测井方法和测井仪器的分辨率 | 第13-15页 |
| ·薄层的基本概念 | 第15-16页 |
| ·薄层测井响应理论基础 | 第16-17页 |
| ·薄互层测井的响应特征 | 第17-19页 |
| ·薄层、薄互层测井响应一般规律 | 第19-23页 |
| 第3章 利用电成像测井建立薄层各向异性模型 | 第23-43页 |
| ·电成像测井介绍 | 第23-25页 |
| ·电成像测井资料预处理 | 第25-31页 |
| ·基于电成像测井各向异性模型的建立 | 第31-43页 |
| 第4章 薄储层双电层模型分析方法 | 第43-53页 |
| ·DEL模型的基本原理 | 第43-49页 |
| ·砂泥岩薄互层各参数的计算 | 第49-53页 |
| 第5章 电成像测井资料对薄层处理的应用 | 第53-60页 |
| ·基于电成像测井的薄层划分 | 第53-56页 |
| ·研究区储层参数确定 | 第56页 |
| ·双电层模型参数确定 | 第56-58页 |
| ·双电层模型效果分析 | 第58-60页 |
| 第6章 结论 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 个人简历 | 第65-66页 |
