| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-27页 |
| ·论文研究的背景和意义 | 第12-13页 |
| ·国内外故障诊断技术的发展 | 第13-16页 |
| ·TE 过程故障诊断方法研究现状 | 第16-25页 |
| ·本文研究内容 | 第25-27页 |
| 第2章 TE(Tennessee Eastman)过程描述 | 第27-33页 |
| ·过程工艺流程图 | 第27-28页 |
| ·过程变量 | 第28页 |
| ·过程故障 | 第28-29页 |
| ·过程数据 | 第29-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 改进的模糊核 C-均值故障诊断方法 | 第33-56页 |
| ·核主元分析原理 | 第33-42页 |
| ·符号定义 | 第34页 |
| ·核函数的定义 | 第34-35页 |
| ·核函数的选取 | 第35-36页 |
| ·协方差矩阵与内积矩阵的特征向量之间的关系 | 第36-38页 |
| ·计算高维空间的得分向量 | 第38页 |
| ·计算高维空间中的T 2和 SPE 统计量 | 第38页 |
| ·核主元分析的步骤 | 第38-41页 |
| ·算法流程图 | 第41-42页 |
| ·模糊 C-均值聚类 | 第42-43页 |
| ·模糊 C-均值原理 | 第42页 |
| ·模糊 C-均值步骤 | 第42-43页 |
| ·模糊核 C-均值聚类 | 第43-44页 |
| ·模糊核 C-均值原理 | 第43-44页 |
| ·模糊核 C-均值步骤 | 第44页 |
| ·基于核主元分析和模糊核 C-均值聚类的故障诊断方法 | 第44-47页 |
| ·算法步骤 | 第44-46页 |
| ·算法流程图 | 第46-47页 |
| ·仿真结果分析 | 第47-55页 |
| ·基于核主元分析的故障检测 | 第47-51页 |
| ·基于模糊核 C-均值的故障诊断 | 第51-52页 |
| ·基于核主元分析和模糊核 C-均值的故障诊断 | 第52-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第4章 改进的增量核聚类故障诊断方法 | 第56-68页 |
| ·增量核聚类原理 | 第56-58页 |
| ·核主元分析和增量核聚类原理 | 第58-60页 |
| ·算法步骤 | 第58-59页 |
| ·算法流程图 | 第59-60页 |
| ·仿真结果分析 | 第60-66页 |
| ·基于增量模糊 C-均值的故障诊断 | 第60-62页 |
| ·基于增量模糊核 C-均值的故障诊断 | 第62-64页 |
| ·基于核主元分析和增量核聚类的故障诊断 | 第64-66页 |
| ·本章小结 | 第66-68页 |
| 第5章 基于 LABVIEW 的 TE 过程故障诊断系统平台设计 | 第68-76页 |
| ·启动平台设计 | 第68页 |
| ·主函数平台设计 | 第68-69页 |
| ·基于 KPCA 的故障检测平台设计 | 第69-70页 |
| ·基于 KPCA-IKFCM 的故障诊断平台设计 | 第70页 |
| ·设计实现 | 第70-75页 |
| ·基于 KPCA 的故障检测平台实现 | 第70-72页 |
| ·基于 KPCA-IKFCM 的故障诊断平台实现 | 第72-75页 |
| ·本章小结 | 第75-76页 |
| 结论 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-81页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和获得的科研成果 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
