双片级联微通道板的特性测试与应用
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-12页 |
| ·像增强器与MCP | 第7-8页 |
| ·MCP-PMT的原理与应用 | 第8-10页 |
| ·本文研究背景 | 第10页 |
| ·本文的主要工作 | 第10-12页 |
| 2 双片级联MCP和MCP-PMT测试理论基础 | 第12-21页 |
| ·MCP的工作原理及结构特性 | 第12-13页 |
| ·MCP工作原理 | 第12-13页 |
| ·MCP的长径比 | 第13页 |
| ·MCP的开口面积比 | 第13页 |
| ·MCP的空间分辨力 | 第13页 |
| ·MCP特性评价参数 | 第13-16页 |
| ·MCP的增益特性 | 第14页 |
| ·MCP的电流传递特性 | 第14-15页 |
| ·MCP的噪声特性 | 第15-16页 |
| ·双片级联MCP特性评价参数 | 第16-17页 |
| ·双片级联MCP结构 | 第16页 |
| ·双片级联MCP的增益 | 第16-17页 |
| ·双片级联MCP的噪声 | 第17页 |
| ·MCP-PMT特性评价参数 | 第17-21页 |
| ·MCP-PMT的结构及工作原理 | 第17-18页 |
| ·MCP-PMT的阴极积分灵敏度和阳极积分灵敏度 | 第18页 |
| ·MCP-PMT的光谱灵敏度和量子效率 | 第18-19页 |
| ·MCP-PMT的增益 | 第19页 |
| ·MCP-PMT的暗电流和其他特性 | 第19-21页 |
| 3 双片级联MCP的特性测试实验及分析 | 第21-40页 |
| ·噪声特性测试系统 | 第21-23页 |
| ·测试系统整体 | 第21-22页 |
| ·系统的操作过程 | 第22-23页 |
| ·双片级联MCP增益对比实验及分析 | 第23-30页 |
| ·增益测试原理 | 第23-26页 |
| ·增益测试结果分析 | 第26-30页 |
| ·双片级联MCP的输出信噪比对比实验及分析 | 第30-38页 |
| ·输出信噪比测试原理 | 第30-32页 |
| ·双片级联MCP输出信噪比随电压变化实验 | 第32-35页 |
| ·双片级联MCP输出信噪比随灯丝电流变化实验 | 第35-38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 4 MCP-PMT静态性能测试系统的研制与实验 | 第40-59页 |
| ·测试系统总体设计 | 第40-42页 |
| ·系统的硬件结构设计 | 第42-50页 |
| ·光源和电源 | 第42-43页 |
| ·组合滤光片盒 | 第43页 |
| ·积分球 | 第43-45页 |
| ·测试暗箱 | 第45-46页 |
| ·高压电源 | 第46-48页 |
| ·阳极光电流测试仪与阴极光电流测试仪 | 第48-50页 |
| ·系统的软件设计 | 第50-57页 |
| ·阴极灵敏度测试模块 | 第51-53页 |
| ·阳极灵敏度测试模块 | 第53-54页 |
| ·数据库模块 | 第54-57页 |
| ·大面积MCP-PMT测试实验与结果 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 5 结束语 | 第59-61页 |
| ·本文工作小结 | 第59页 |
| ·有待进一步解决的问题 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
