| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-15页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·本文的主要内容与结构安排 | 第13-15页 |
| 2 成像光谱技术 | 第15-28页 |
| ·成像光谱的发展 | 第15-16页 |
| ·干涉型光谱成像技术 | 第16-18页 |
| ·干涉光谱重构原理 | 第18-20页 |
| ·干涉图预处理技术 | 第20-27页 |
| ·数据采样 | 第20-21页 |
| ·背景去除 | 第21-22页 |
| ·滤波去噪 | 第22页 |
| ·仪器线形函数与切趾 | 第22-25页 |
| ·相位修正 | 第25-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 3 基于Sarvart偏光镜的空间干涉高光谱成像仿真与实验 | 第28-46页 |
| ·实验结构及主要光学器件特性分析 | 第28-32页 |
| ·工作原理与参数设定 | 第32-35页 |
| ·干涉光谱成像仿真分析 | 第35-39页 |
| ·窄光谱仿真 | 第35-36页 |
| ·宽光谱干涉成像仿真 | 第36-37页 |
| ·不同光谱产生的误差分析 | 第37-38页 |
| ·相干长度 | 第38-39页 |
| ·实验结果与分析 | 第39-45页 |
| ·成像光谱定标 | 第40-41页 |
| ·绿光LED光源实验与分析 | 第41-42页 |
| ·汞灯光源实验与分析 | 第42-43页 |
| ·光谱重构装置改进与色散补偿 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 4 全偏振高光谱测量理论 | 第46-60页 |
| ·偏振描述及参数定义 | 第46-52页 |
| ·完全偏振态参数的椭圆描述形式 | 第46-47页 |
| ·非完全偏振态参数的描述形式 | 第47-50页 |
| ·偏振器件 | 第50-52页 |
| ·基于电控双折射的液晶相位调制技术 | 第52-53页 |
| ·全偏振高光谱测量方案 | 第53-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 5 全偏振高光谱干涉成像仿真与实验结果分析 | 第60-66页 |
| ·全偏振干涉成像仿真分析 | 第60-62页 |
| ·窄光谱全偏振干涉成像光谱仿真 | 第60-61页 |
| ·宽光谱全偏振干涉成像光谱仿真 | 第61-62页 |
| ·全偏振误差分析 | 第62-63页 |
| ·全偏振高光谱干涉成像实验与结果分析 | 第63-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 6 工作总结与展望 | 第66-67页 |
| ·工作总结 | 第66页 |
| ·展望 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 作者简历及在学期间所取得的科研成果 | 第70页 |