| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-19页 |
| ·选题的意义 | 第11-12页 |
| ·国内外研究现状及分析 | 第12-16页 |
| ·课题的研究意义与来源 | 第16-18页 |
| ·论文的主要内容及章节安排 | 第18-19页 |
| 第2章 金属磁记忆检测技术的原理与应用 | 第19-27页 |
| ·引言 | 第19页 |
| ·磁记忆检测技术的基本原理 | 第19-20页 |
| ·磁记忆检测仪器介绍 | 第20-23页 |
| ·疲劳拉伸试件实验分析 | 第23-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 齿轮磁记忆信号的特征提取 | 第27-47页 |
| ·引言 | 第27页 |
| ·齿轮磁记忆信号采集及分析 | 第27-31页 |
| ·正常齿轮磁记忆检测 | 第28页 |
| ·裂纹故障齿轮磁记忆检测 | 第28-30页 |
| ·裂纹&断齿故障齿轮磁记忆检测 | 第30-31页 |
| ·基于 Mexihat 小波的特征提取 | 第31-35页 |
| ·Mexihat 小波变换原理 | 第31-33页 |
| ·齿轮实验分析 | 第33-35页 |
| ·基于固有时间尺度分解（ITD）的特征提取 | 第35-40页 |
| ·基于 SVM 的齿轮应力集中区判断 | 第40-45页 |
| ·SVM 原理介绍 | 第40-44页 |
| ·SVM 实验分析 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 第4章 场桥磁记忆信号的特征提取 | 第47-61页 |
| ·引言 | 第47-48页 |
| ·场桥磁记忆信号采集及分析 | 第48-51页 |
| ·场桥横梁中部检测 | 第48-50页 |
| ·场桥横梁端部检测 | 第50-51页 |
| ·基于奇异值分解（SVD）的特征提取 | 第51-57页 |
| ·奇异值分解基本原理 | 第51-54页 |
| ·多分辨奇异值分解基本原理 | 第54-55页 |
| ·场桥实验分析 | 第55-57页 |
| ·基于 ITD 与 Mexihat 小波的特征提取 | 第57-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第5章 三维磁记忆检测仪器设计 | 第61-99页 |
| ·引言 | 第61页 |
| ·检测系统原理 | 第61-67页 |
| ·系统量程的选择 | 第61-62页 |
| ·传感器的选择及工作原理 | 第62-65页 |
| ·传感器工作方式选择 | 第65-67页 |
| ·检测系统组成模块 | 第67-68页 |
| ·检测系统硬件功能模块 | 第67页 |
| ·检测系统软件功能模块 | 第67-68页 |
| ·检测系统硬件设计和制作 | 第68-82页 |
| ·锂电池供电模块 | 第68-69页 |
| ·电压转换模块 | 第69-70页 |
| ·传感器置位/复位供电模块 | 第70页 |
| ·传感器置位/复位控制模块 | 第70-72页 |
| ·信号调理模块 | 第72-73页 |
| ·多路选择模块 | 第73-74页 |
| ·AD 转换模块 | 第74-75页 |
| ·单片机模块 | 第75-77页 |
| ·温度采集模块 | 第77-78页 |
| ·LCD 模块 | 第78-80页 |
| ·PCB 制作 | 第80-81页 |
| ·硬件抗干扰设计 | 第81-82页 |
| ·检测系统软件设计 | 第82-95页 |
| ·单片机系统软件概述 | 第82-83页 |
| ·温度采集驱动函数——DS18B20 芯片 | 第83-86页 |
| ·AD 转换驱动函数——AD7694 芯片 | 第86-87页 |
| ·LCD 显示驱动函数——ZX12864 芯片 | 第87-89页 |
| ·主程序模块 | 第89-90页 |
| ·磁场数据获取和转换模块 | 第90-93页 |
| ·温度显示模块 | 第93页 |
| ·LCD 显示模块 | 第93-95页 |
| ·磁记忆检测仪器整体介绍 | 第95-98页 |
| ·本章小结 | 第98-99页 |
| 结论 | 第99-101页 |
| 参考文献 | 第101-105页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第105-107页 |
| 致谢 | 第107页 |