| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 目录 | 第10-13页 |
| 图表目录 | 第13-17页 |
| 1 绪论 | 第17-37页 |
| ·光学相干层析技术概述 | 第17-25页 |
| ·光学相干层析技术的诞生和发展 | 第17-19页 |
| ·傅立叶域光学相干层析技术的发展和应用 | 第19-25页 |
| ·论文总体结构和主要创新点 | 第25-27页 |
| ·论文的总体结构 | 第25-26页 |
| ·本文的主要创新点 | 第26-27页 |
| ·本章参考文献 | 第27-37页 |
| 2 傅立叶域光学相干层析技术的基本理论 | 第37-48页 |
| ·傅立叶域OCT基本原理 | 第37-40页 |
| ·傅立叶域OCT的光学性能及其制约因素 | 第40-44页 |
| ·复杂样品的轴向分辨率与简单样品的轴向分辨率 | 第40-42页 |
| ·横向分辨率及焦深 | 第42页 |
| ·轴向成像灵敏度及轴向成像深度 | 第42-44页 |
| ·本章小结 | 第44页 |
| ·本章参考文献 | 第44-48页 |
| 3 正交色散光谱仪的基本理论 | 第48-76页 |
| ·正交色散光谱仪的基本原理和研究现状 | 第48-52页 |
| ·正交色散光谱仪的基本原理 | 第48-49页 |
| ·基于正交色散的应用研究 | 第49-52页 |
| ·光栅色散理论及光栅光谱仪的光谱分辨率 | 第52-56页 |
| ·光栅色散理论和光栅光谱仪的构成 | 第52-53页 |
| ·光栅干涉所决定的光谱分辨率 | 第53-54页 |
| ·光斑在探测器上的衍射孔径所决定的光谱分辨率 | 第54-55页 |
| ·探测器的像元尺寸所决定的光谱分辨率 | 第55页 |
| ·光栅光谱仪的光谱分辨率决定因素 | 第55-56页 |
| ·虚像相控阵列的色散理论 | 第56-65页 |
| ·虚像相控阵列色散的基本原理 | 第56-61页 |
| ·虚像相控阵列的自由光谱范围 | 第61-62页 |
| ·虚像相控阵列的有效光束数与光谱分辨率 | 第62-65页 |
| ·虚像相控阵列的透射效率 | 第65页 |
| ·正交色散光谱仪的设计 | 第65-73页 |
| ·正交色散光谱仪的光学系统设计 | 第66-67页 |
| ·虚像相控阵列色散和光栅色散的匹配 | 第67-68页 |
| ·正交色散光谱仪的光谱分布 | 第68-72页 |
| ·正交色散光谱仪的光谱拼接 | 第72-73页 |
| ·正交色散光谱仪的光谱分辨率决定因素 | 第73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| ·本章参考文献 | 第74-76页 |
| 4 基于正交色散光谱仪的谱域光学相干系统研制 | 第76-107页 |
| ·正交色散光谱仪的研制 | 第77-87页 |
| ·正交色散光谱仪的硬件选择：光纤和准直镜 | 第77-78页 |
| ·正交色散光谱仪的硬件选择：柱透镜、聚焦透镜 | 第78-79页 |
| ·正交色散光谱仪的硬件选择：虚像相控阵列(VIPA) | 第79-82页 |
| ·正交色散光谱仪的硬件选择：光栅 | 第82-83页 |
| ·正交色散光谱仪的硬件选择：面阵探测器 | 第83-86页 |
| ·正交色散光谱仪的性能指标 | 第86-87页 |
| ·基于正交色散光谱仪的谱域光学相干层析系统 | 第87-105页 |
| ·基于正交色散光谱仪的谱域光学相干层析系统构成 | 第87-88页 |
| ·正交色散光谱仪的标定方法 | 第88-92页 |
| ·正交色散光谱仪的光谱标定和噪声处理 | 第92-102页 |
| ·软件系统设计 | 第102-105页 |
| ·本章小结 | 第105-106页 |
| ·本章参考文献 | 第106-107页 |
| 5 傅立叶域光学相干层析系统的应用研究 | 第107-143页 |
| ·相位分析方法在谱域光学相干层析系统中的应用 | 第107-111页 |
| ·傅立叶域光学相干系统的信号相位的获取和分析方法 | 第107-109页 |
| ·超高精度谱域光学相干相位成像 | 第109-111页 |
| ·基于相位分析的多普勒光学相干层析成像原理及其实验研究 | 第111-122页 |
| ·小鼠脑血流的实时成像与生物刺激响应研究 | 第111-116页 |
| ·微流控芯片的原理性设计和优化研究 | 第116-122页 |
| ·基于光学蒙特卡洛仿真的多普勒信号信噪比优化模型研究 | 第122-126页 |
| ·光学蒙特卡洛仿真的原理 | 第122页 |
| ·光学蒙特卡洛仿真方法对多普勒信号处理的应用 | 第122-126页 |
| ·光介质中谱域光学相干层析成像系统的误差分析和矫正 | 第126-132页 |
| ·重构误差的理论分析 | 第126-129页 |
| ·重构误差校正方法的实验验证 | 第129-132页 |
| ·基于谱域光学相干层析系统的成像应用研究 | 第132-136页 |
| ·基于谱域光学相干层析系统的内窥成像研究 | 第132-135页 |
| ·基于谱域光学相干层析成像系统的三维成像 | 第135-136页 |
| ·基于反射光谱的低对比表层指纹提取算法 | 第136-138页 |
| ·偏振光学相干层析成像的算法研究 | 第138-139页 |
| ·本章小结 | 第139-140页 |
| ·本章参考文献 | 第140-143页 |
| 6 总结和展望 | 第143-145页 |
| 作者简介 | 第145-148页 |
