| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 专用术语注释表 | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| ·课题的研究背景及国内外研究现状 | 第9-12页 |
| ·主动 Lamb 波结构健康监测 | 第9-11页 |
| ·国内外主动 Lamb 波结构健康监测的研究现状及存在的问题 | 第11-12页 |
| ·课题研究的目的及意义 | 第12-13页 |
| ·本论文的工作 | 第13-14页 |
| 第二章 Lamb 波基础理论及时间反转过程分析 | 第14-23页 |
| ·Lamb 波基础理论 | 第14-17页 |
| ·Lamb 波概述 | 第14页 |
| ·Lamb 波传播特性分析 | 第14-17页 |
| ·基于压电传感器的 Lamb 波激励与传感过程 | 第17-21页 |
| ·压电陶瓷片简介及应用原理 | 第17-18页 |
| ·基于压电陶瓷片的 Lamb 波激励与传感模型 | 第18-21页 |
| ·Lamb 波时间反转聚焦过程 | 第21-22页 |
| ·时间反转方法 | 第21页 |
| ·基于时间反转方法的 Lamb 波聚焦过程 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 无基准 Lamb 波时间反转损伤监测 | 第23-32页 |
| ·无基准损伤信息提取 | 第23-25页 |
| ·损伤时间信息提取技术 | 第25-28页 |
| ·希尔伯特变换（HT）法 | 第25-26页 |
| ·小波变换（WT）法 | 第26-28页 |
| ·互相关函数法 | 第28页 |
| ·损伤监测方法 | 第28-31页 |
| ·椭圆损伤定位法 | 第29页 |
| ·基于损伤概率的成像监测方法 | 第29-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第四章 结构单损伤的无基准主动 Lamb 波监测 | 第32-49页 |
| ·单损伤监测模型分析 | 第32页 |
| ·实验方案 | 第32-48页 |
| ·损伤在传感器阵列内部 | 第33-39页 |
| ·损伤在传感器阵列边界 | 第39-44页 |
| ·损伤在传感器阵列外部 | 第44-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 结构多损伤的无基准主动 Lamb 波监测 | 第49-59页 |
| ·多损伤监测模型分析 | 第49-51页 |
| ·实验研究 | 第51-55页 |
| ·实验方案 | 第51页 |
| ·实验结果分析 | 第51-55页 |
| ·损伤成像 | 第55-58页 |
| ·椭圆技术定位损伤法 | 第55-57页 |
| ·基于概率的损伤成像 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第六章 总结与展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 附录1 攻读硕士学位期间撰写的论文 | 第64-65页 |
| 附录2 攻读硕士学位期间申请的专利 | 第65-66页 |
| 附录3 攻读硕士学位期间参加的科研项目 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |