| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-19页 |
| ·研究的相关背景、目的及意义 | 第15-16页 |
| ·智能万用表概述 | 第15页 |
| ·国内外的研究现状 | 第15-16页 |
| ·课题研究的目的及意义 | 第16页 |
| ·本论文的构成摘要 | 第16-17页 |
| ·小结 | 第17页 |
| 参考文献 | 第17-19页 |
| 第二章 智能万用表的组成及工作原理 | 第19-39页 |
| ·智能仪器概述 | 第19-20页 |
| ·智能万用表的组成 | 第20-21页 |
| ·NB8000万用表的工作原理 | 第21-32页 |
| ·NB80000万用表介绍 | 第21-22页 |
| ·万用表总体构成 | 第22-23页 |
| ·测量模块 | 第23-25页 |
| ·微处理器模块 | 第25-26页 |
| ·显示模块 | 第26页 |
| ·存储模块 | 第26-27页 |
| ·档位选择模块 | 第27-29页 |
| ·万用表功能键介绍 | 第29-32页 |
| ·虚拟仪器LABVIEW概述 | 第32-36页 |
| ·虚拟仪器的应用简介 | 第32-34页 |
| ·LabVIEW的功能简介 | 第34-36页 |
| ·小结 | 第36页 |
| 参考文献 | 第36-39页 |
| 第三章 通用微控制器控制下的万用表系统的设计与实现 | 第39-81页 |
| ·通用微控制器控制下的万用表系统的总体构成 | 第39页 |
| ·测量模块的设计与实现 | 第39-41页 |
| ·硬件电路设计思路 | 第39-40页 |
| ·实验板调试 | 第40-41页 |
| ·微控制器模块的设计与实现 | 第41-55页 |
| ·微控制器的选型 | 第41-44页 |
| ·控制时序的获取与分析 | 第44-49页 |
| ·单片机控制时序的产生 | 第49页 |
| ·档位转换 | 第49-50页 |
| ·量程自动转换 | 第50-54页 |
| ·模块测试 | 第54-55页 |
| ·存储模块的设计与实现 | 第55-57页 |
| ·存储芯片AT45DB081B | 第55-56页 |
| ·存储芯片的读写控制实现 | 第56-57页 |
| ·档位选择模块的设计与实现 | 第57-67页 |
| ·硬件电路设计 | 第57-63页 |
| ·实验板调试 | 第63-65页 |
| ·模块测试 | 第65-67页 |
| ·通讯模块的设计与实现 | 第67-72页 |
| ·硬件电路设计 | 第67-68页 |
| ·底层通讯协议的设计 | 第68-71页 |
| ·微控制器通讯程序设计 | 第71-72页 |
| ·模块测试 | 第72页 |
| ·基于LABVIEW的万用表显示平台的设计与实现 | 第72-78页 |
| ·基于LabVIEW的万用表显示平台界面设计 | 第72-73页 |
| ·功能实现 | 第73-77页 |
| ·模块测试 | 第77-78页 |
| ·小结 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 第四章 通用微控制器控制下的万用表系统的集成及性能测试 | 第81-105页 |
| ·系统集成 | 第81-91页 |
| ·总体框架 | 第81-82页 |
| ·档位集成方法 | 第82-84页 |
| ·测量功能的开发 | 第84-91页 |
| ·系统功能完善 | 第91-98页 |
| ·校准平台的构建 | 第91-96页 |
| ·校准方法 | 第96-98页 |
| ·综合测试与分析 | 第98-102页 |
| ·准确度测试及分析 | 第98-101页 |
| ·线性度测试及分析 | 第101-102页 |
| ·小结 | 第102页 |
| 参考文献 | 第102-105页 |
| 第五章 结论 | 第105-107页 |
| ·本文的主要工作 | 第105-106页 |
| ·研究中存在的不足 | 第106-107页 |
| 致谢 | 第107-109页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第109-111页 |
| 攻读学位期间参与的项目及其它成果 | 第111页 |