| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-14页 |
| ·选题依据及研究意义 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-12页 |
| ·研究内容 | 第12-13页 |
| ·研究成果 | 第13-14页 |
| 第2章 X 荧光分析理论基础 | 第14-26页 |
| ·特征X 射线产生机制 | 第14-16页 |
| ·XRF 技术定性分析原理 | 第16-18页 |
| ·元素甄别 | 第16页 |
| ·仪器系统刻度 | 第16-18页 |
| ·XRF 技术定量分析原理 | 第18-26页 |
| ·定量分析基础 | 第18-19页 |
| ·复杂谱的解析 | 第19-22页 |
| ·峰面积计算 | 第22-26页 |
| 第3章 便携式X 射线荧光分析仪 | 第26-33页 |
| ·X 荧光分析仪的结构 | 第26-29页 |
| ·CIT-3000SMP 荧光分析仪的技术指标与工作模式 | 第29-33页 |
| ·技术指标 | 第29-30页 |
| ·工作模式 | 第30-33页 |
| 第4章 工作区地质概况 | 第33-41页 |
| ·工作区交通位置及自然地理条件 | 第33-34页 |
| ·区域地质概述 | 第34-35页 |
| ·地层 | 第34页 |
| ·侵入岩 | 第34页 |
| ·构造 | 第34-35页 |
| ·矿区地质 | 第35-41页 |
| ·地（岩）层 | 第36-37页 |
| ·岩浆岩 | 第37-38页 |
| ·矿区构造 | 第38页 |
| ·金属矿物特征 | 第38-41页 |
| 第5章 现场X 荧光实验测量 | 第41-49页 |
| ·分析测量前的准备工作 | 第41-44页 |
| ·仪器性能检查 | 第41页 |
| ·仪器参数设定与标准样品选择 | 第41-43页 |
| ·仪器标定 | 第43-44页 |
| ·基体效应校正技术 | 第44-47页 |
| ·基体效应 | 第44-45页 |
| ·基体效应校正方法 | 第45-47页 |
| ·岩心样品的测量方法 | 第47-49页 |
| ·测量条件的一致性 | 第47页 |
| ·测量方法 | 第47-49页 |
| 第6章 测量结果分析与评价 | 第49-61页 |
| ·样品分析 | 第49-53页 |
| ·粉末样品分析 | 第49-51页 |
| ·岩心样品分析 | 第51-53页 |
| ·误差分析 | 第53-59页 |
| ·粉末样品误差分析 | 第53-56页 |
| ·岩心样品误差分析 | 第56-59页 |
| ·结果讨论 | 第59-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第65-66页 |
| 附录A 目标元素含量数据表 | 第66-67页 |