微机保护装置硬件测试的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-12页 |
| ·故障测试概述 | 第7-9页 |
| ·故障测试系统的国际、国内现状 | 第9页 |
| ·可测试性设计技术概述 | 第9-10页 |
| ·本论文的主要内容 | 第10-12页 |
| 第2章 测试方案的选取 | 第12-18页 |
| ·测试对象的硬件构成 | 第12-13页 |
| ·测试方案的比较选取 | 第13-18页 |
| ·功能测试 | 第13-14页 |
| ·测试方案一 | 第14-15页 |
| ·测试方案二 | 第15-16页 |
| ·两种测试方案的比较选取 | 第16-18页 |
| 第3章 功能测试的实现 | 第18-48页 |
| ·保护插件的功能测试 | 第18-41页 |
| ·CPU运算控制功能测试 | 第19-22页 |
| ·总线的功能测试 | 第22-27页 |
| ·SRAM的功能测试 | 第27-29页 |
| ·FLASH的功能测试 | 第29-31页 |
| ·中断功能测试 | 第31-32页 |
| ·串口0功能测试 | 第32-34页 |
| ·A/D变换功能测试 | 第34-35页 |
| ·开关量输出功能测试_ | 第35-36页 |
| ·开关量输入功能测试 | 第36-38页 |
| ·看门狗功能测试 | 第38-40页 |
| ·测试程序编制 | 第40-41页 |
| ·信号插件的功能测试 | 第41页 |
| ·出口插件的功能测试 | 第41页 |
| ·交流插件的功能测试 | 第41-42页 |
| ·电源插件的功能测试 | 第42页 |
| ·通信插件的功能测试 | 第42页 |
| ·自检测试报告的显示 | 第42-45页 |
| ·测试的分析 | 第45-47页 |
| ·测试的性能要求 | 第45页 |
| ·基本假设 | 第45-46页 |
| ·故障模拟 | 第46页 |
| ·缺点与不足 | 第46-47页 |
| ·小节 | 第47-48页 |
| 第4章 新一代微机保护装置测试方案探讨 | 第48-63页 |
| ·边缘扫描技术 | 第48-56页 |
| ·应用概况 | 第48-49页 |
| ·应用基础 | 第49-54页 |
| ·工作方式 | 第54-56页 |
| ·指令结构 | 第56页 |
| ·功能测试方法的改进完善 | 第56-57页 |
| ·非接触式测试技术 | 第57页 |
| ·新一代微机保护装置测试方案讨论 | 第57-62页 |
| ·技术展望 | 第57-59页 |
| ·实现方案 | 第59-61页 |
| ·方案分析 | 第61-62页 |
| ·小节 | 第62-63页 |
| 第5章 结论与展望 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 攻读学位期间发表的论文 | 第68页 |
