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高性能HSTL I/O Buffer研究与设计

图目录第1-9页
表目录第9-10页
摘要第10-11页
ABSTRACT第11-12页
第一章 绪论第12-15页
 §1.1 课题研究背景第12-13页
 §1.2 相关研究第13页
 §1.3 本文的主要工作第13-14页
 §1.4 本文的结构第14-15页
第二章 HSTL I/O Buffer相关理论第15-21页
 §2.1 I/O Buffer基本理论第15-16页
 §2.2 HSTL I/O Buffer原理第16-20页
 §2.3 本章小结第20-21页
第三章 高性能HSTL I/O Buffer设计技术研究第21-36页
 §3.1 HSTL I/O Buffer的性能分析第21-30页
  §3.1.1 增益分析第21-24页
  §3.1.2 共模响应第24-28页
  §3.1.3 线性化第28-29页
  §3.1.4 驱动能力分析第29-30页
 §3.2 HSTL I/O Buffer的噪声分析第30-35页
 §3.3 本章小结第35-36页
第四章 HSTL018 I/O Buffer逻辑设计第36-50页
 §4.1 HSTL Input Buffer的逻辑设计第36-43页
  §4.1.1 设计要求分析第36页
  §4.1.2 ESD保护电路设计第36-38页
  §4.1.3 Buffer驱动电路设计第38-43页
 §4.2 HSTL Output Buffer的逻辑设计第43-49页
  §4.2.1 设计要求分析第44页
  §4.2.2 驱动电路设计第44-49页
 §4.3 本章小结第49-50页
第五章 HSTL018 I/O Buffer版图设计第50-56页
 §5.1 接口电路版图设计技术第50-53页
  §5.1.1 版图设计规则第50-51页
  §5.1.2 叉指晶体管第51页
  §5.1.3 对称性与匹配第51-53页
  §5.1.4 ESD保护电路和抗闩锁效应设计第53页
 §5.2 HSTL I/O Buffer的版图设计第53-55页
  §5.2.1 HSTL输入buffer的版图设计第54页
  §5.2.2 HSTL输出buffer的版图设计第54-55页
  §5.2.3 版图性能总结第55页
 §5.3 本章小结第55-56页
第六章 HSTL018 I/O Buffer验证与测试第56-62页
 §6.1 测试方法研究第56-57页
 §6.2 HSTL I/O Buffer PCB测试板的设计第57-61页
  §6.2.1 高速PCB设计概述第57-59页
  §6.2.2 HSTL测试PCB板设计第59-61页
 §6.3 本章小结第61-62页
第七章 结束语第62-63页
 §7.1 本文的工作总结第62页
 §7.2 工作展望第62-63页
致谢第63-64页
硕士期间发表的论文第64-65页
参考文献第65-66页

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