| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-21页 |
| 1．1 石英晶体振荡器综述 | 第9-13页 |
| 1．1．1 石英谐振器 | 第9-12页 |
| 1．1．2 晶体振荡器分类 | 第12-13页 |
| 1．2 温度补偿晶体振荡器 | 第13-17页 |
| 1．2．1 模拟温度补偿晶体振荡器(TCXO) | 第15页 |
| 1．2．2 数字温度补偿晶体振荡器(DTCXO) | 第15-16页 |
| 1．2．3 微机补偿晶体振荡器(MCXO) | 第16-17页 |
| 1．3 微机补偿晶体振荡器的发展背景及当前状态和趋势 | 第17-20页 |
| 1．3．1 国内外微机补偿晶体振荡器的发展背景 | 第17-18页 |
| 1．3．2 当前国内发展水平 | 第18-19页 |
| 1．3．3 晶体振荡器发展趋势 | 第19-20页 |
| 1．4 本文研究内容及意义 | 第20-21页 |
| 第2章 微机补偿晶体振荡器的系统设计 | 第21-48页 |
| 2．1 系统总体设计 | 第21-23页 |
| 2．1．1 系统框图及原理 | 第21-22页 |
| 2．1．2 系统设计指标 | 第22-23页 |
| 2．2 振荡电路的设计 | 第23-31页 |
| 2．2．1 晶体谐振器 | 第23页 |
| 2．2．2 科尔匹兹主振荡电路 | 第23-30页 |
| 2．2．3 压控调频端的设计 | 第30-31页 |
| 2．3 AD/DA模块 | 第31-38页 |
| 2．3．1 TLC320AC02I芯片介绍 | 第31-33页 |
| 2．3．2 AD/DA转换过程及数据传输过程 | 第33-36页 |
| 2．3．3 D/A输出端设计 | 第36-37页 |
| 2．3．4 AD/DA转换精度 | 第37页 |
| 2．3．5 TLC320AC02I掉电措施 | 第37-38页 |
| 2．4 温度传感器 | 第38-42页 |
| 2．4．1 温度敏感元件——铂电阻 | 第38-40页 |
| 2．4．2 传感器的转换电路 | 第40-42页 |
| 2．5 EEPROM | 第42-44页 |
| 2．5．1 EEPROM的读写操作及写保护 | 第43-44页 |
| 2．5．2 X25045的看门狗功能 | 第44页 |
| 2．6 微处理器 | 第44-45页 |
| 2．7 PCB板可靠性设计 | 第45-46页 |
| 2．8 小结 | 第46-48页 |
| 第3章 在线实时测量方案 | 第48-56页 |
| 3．1 测量过程概述 | 第48页 |
| 3．2 在线实时测量方案的必要性 | 第48-49页 |
| 3．3 在线实时测量过程 | 第49-55页 |
| 3．3．1 方案概述及硬件连接图 | 第49-50页 |
| 3．3．2 具体测量过程 | 第50-55页 |
| 3．4 小结 | 第55-56页 |
| 第4章 系统软件设计 | 第56-64页 |
| 4．1 测量程序 | 第56-59页 |
| 4．2 工作程序 | 第59-63页 |
| 4．2．1 补偿电压形成过程的软件设计 | 第59-60页 |
| 4．2．2 采用埃肯特算法的三次插值运算 | 第60-63页 |
| 4．3 小结 | 第63-64页 |
| 第5章 样机测试报告 | 第64-70页 |
| 5．1 频率温度稳定度测试结果 | 第64-68页 |
| 5．1．1 湖南大学测试结果 | 第64-66页 |
| 5．1．2 日本Systec Research公司测试结果 | 第66-68页 |
| 5．2 输出频率及波形 | 第68页 |
| 5．3 功耗测试结果 | 第68-69页 |
| 5．4 相位噪声测试结果 | 第69-70页 |
| 结论 | 第70-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 附录A (攻读学位期间发表的学术论文目录) | 第78页 |